磁共振系統、射頻線圈測試裝置及通道的匹配方法和裝置製造方法
2023-10-18 12:21:59 1
磁共振系統、射頻線圈測試裝置及通道的匹配方法和裝置製造方法
【專利摘要】一種磁共振系統、射頻線圈測試裝置及通道的匹配方法和裝置，射頻線圈測試通道至少包括一個，各射頻線圈測試通道的接口通過連接線與各射頻線圈通道的接頭連接，所述射頻線圈測試通道的匹配方法包括：在所述各射頻線圈通道的接頭處接入不同阻值的取樣電阻，得到所述各射頻線圈測試通道的取樣值；對所述各射頻線圈測試通道進行測量，得到所述各射頻線圈測試通道的測試數據；將所述各射頻線圈測試通道的測試數據與所述各射頻線圈通道的取樣值進行匹配，得到匹配結果；根據所述匹配結果重新定義所述各射頻線圈測試通道。本技術方案提供的射頻線圈測試通道的匹配方法和裝置，能夠提高匹配效率，且匹配時不會出錯，有利於射頻線圈的維護。
【專利說明】磁共振系統、射頻線圈測試裝置及通道的匹配方法和裝置
【技術領域】
[0001]本發明涉及磁共振成像【技術領域】，特別涉及一種磁共振系統、射頻線圈測試裝置及通道的匹配方法和裝置。
【背景技術】
[0002]磁共振成像(MRI,Magnetic Resonance Imaging)作為核磁共振應用的重要領域，由於其對人體軟組織有極好的分辨力、成像參數能提供豐富的診斷信息、對人體沒有電離輻射損傷等諸多優點，磁共振成像系統已成為醫學臨床診斷的主要工具之一。作為磁共振系統中接收信號的核心部件，射頻線圈在直接接觸人體使用前，需要利用射頻線圈測試裝置對射頻線圈進行包括諸如傳輸特性、射頻線圈類型等性能測試，確保經過性能測試後的射頻線圈正常使用。
[0003]在利用射頻線圈測試裝置對射頻線圈進行測試或利用射頻線圈對人體進行測試之前，需要將射頻線圈測試裝置或磁共振系統中的射頻線圈測試通道通過線纜與射頻線圈對應的通道連接起來。根據通道功能的不同，射頻線圈測試通道可分為射頻通道、直流供電通道和線圈編碼通道，每種類型的測試通道都包括多個。其中，射頻通道用於傳輸射頻線圈單元的控制信號，直流供電通道用於給與射頻線圈連接的放大器或其他單元提供工作電壓，線圈編碼通道用於連接射頻線圈和射頻線圈測試裝置或磁共振系統中的線圈編碼模塊。
[0004]以利 用射頻線圈測試裝置對射頻線圈進行測試為例，圖1所示為射頻線圈通道與射頻線圈測試裝置中對應的射頻線圈測試通道連接的示意圖。參考圖1，射頻線圈通道接頭面板11上包括與射頻通道1、射頻通道2、…、射頻通道m對應的射頻通道接頭(RF1、RF2、…、RFm)，與直流供電通道1、直流供電通道2、.…、直流供電通道η對應的直流供電通道接頭(DC1、DC2、…、DCn)，與線圈編碼通道1、線圈編碼通道2、…、線圈編碼通道ρ對應的線圈編碼通道接頭(CODE 1、C0DE2、....、CODEp )，相應地，射頻線圈測試裝置的印製電路板(PCB,Printed Circuit Board) 12 上包括 m 個射頻通道接口(rf l、rf2、…、rfm),n 個直流供電通道接口(del、dc2、…、dcn), ρ個線圈編碼通道接口(codel、code2、…、codep)。在對射頻線圈進行測試前，通過線纜將射頻線圈測試裝置的印製電路板12上的接口與射頻線圈通道接頭面板11上的接頭連接起來，以實現射頻線圈測試裝置中的射頻線圈測試通道與射頻線圈對應的通道連接。現有技術中，通過識別連接線的顏色對通道進行匹配，例如，連接射頻線圈通道接頭面板11上的射頻通道接頭RFl的連接線為白色，那麼這根白色的連接線只能與射頻線圈測試裝置的印製電路板12上對應的射頻通道接口 rfl連接。
[0005]在對射頻線圈測試通道匹配的過程中，由於需要對多根連接線的顏色進行識別，匹配效率較低。並且，由於連接線的數量較多，操作時容易造成射頻線圈測試通道匹配錯誤，不利於射頻線圈維護。
[0006]更多關於通道匹配的技術方案可以參考申請號為201010610184.5、發明名稱為多通道射頻相位匹配控制裝置和方法的中國專利申請文件。
【發明內容】
[0007]本發明解決的是對射頻線圈測試通道進行匹配時匹配效率低、不利於射頻線圈維護的問題。
[0008]為解決上述問題，本發明提供了一種射頻線圈測試通道的匹配方法，所述射頻線圈測試通道至少包括一個，各射頻線圈測試通道的接口通過連接線與各射頻線圈通道的接頭連接，所述射頻線圈測試通道的匹配方法包括:在所述各射頻線圈通道的接頭處接入不同阻值的取樣電阻，得到所述各射頻線圈測試通道的取樣值；對所述各射頻線圈測試通道進行測量，得到所述各射頻線圈測試通道的測試數據；將所述各射頻線圈測試通道的測試數據與所述各射頻線圈測試通道的取樣值進行匹配，得到匹配結果；根據所述匹配結果，重新定義所述各射頻線圈測試通道。
[0009]可選的，所述射頻線圈測試通道為射頻通道，所述各射頻線圈測試通道的取樣值為所述各射頻線圈測試通道上的電壓與所述各射頻線圈通道的接頭處接入的取樣電阻的比值。
[0010]可選的，所述射頻線圈測試通道為直流供電通道，所述各射頻線圈測試通道的取樣值為所述各射頻線圈測試通道上的電壓與所述各射頻線圈通道的接頭處接入的取樣電阻的比值。
[0011]可選的，所述對所述各射頻線圈測試通道進行測量，得到所述各射頻線圈測試通道的測試數據包括:將所述各射頻線圈測試通道的電流信號轉換成電壓信號；對所述電壓信號進行模數轉換，得到所述測試數據。
[0012]可選的，所述射頻線圈測試通道為線圈編碼通道，所述各射頻線圈測試通道的取樣值為所述各射頻線圈通道的接頭處接入的取樣電阻的識別碼。
[0013]可選的，所述測試數據為所述取樣電阻的識別碼。
[0014]可選的，所述識別碼是依據所述各射頻線圈通道的接頭處接入的取樣電阻的阻值預先定義的。
[0015]為解決上述問題，本發明還提供了一種射頻線圈測試通道的匹配裝置，所述射頻線圈測試通道至少包括一個，各射頻線圈測試通道的接口通過連接線與各射頻線圈通道的接頭連接，所述射頻線圈測試通道的匹配裝置包括:存儲單元，用於存儲在所述各射頻線圈通道的接頭處接入不同阻值的取樣電阻後得到的所述各射頻線圈測試通道的取樣值；測量單元，用於對所述各射頻線圈測試通道進行測量，得到所述各射頻線圈測試通道的測試數據；匹配單元，用於將所述測量單元測量的所述各射頻線圈測試通道的測試數據與所述存儲單元存儲的所述各射頻線圈測試通道的取樣值進行匹配，得到匹配結果；定義單元，用於根據所述匹配單元得到的匹配結果，重新定義所述各射頻線圈測試通道。
[0016]可選的，所述測量單元包括:電流電壓轉換單元，用於將所述各射頻線圈測試通道的電流信號轉換成電壓信號；模數轉換單元，用於將所述電壓信號進行模數轉換，得到所述測試數據。
[0017]基於上述射頻線圈測試通道的匹配方法和裝置，本發明實施例還提供了一種射頻線圈的測試裝置，所述射頻線圈測試裝置包括與射頻線圈通道連接的射頻線圈測試通道，還包括上述射頻線圈測試通道的匹配裝置。[0018]基於上述射頻線圈測試通道的匹配方法和裝置，本發明實施例還提供了一種磁共振系統，所述磁共振系統包括射頻線圈、與射頻線圈通道連接的射頻線圈測試通道，還包括上述射頻線圈測試通道的匹配裝置。
[0019]與現有技術相比，本發明技術方案提供的射頻線圈測試通道的匹配方法和裝置，在射頻線圈通道的接頭處通過接入不同的取樣電阻以得到不同的取樣值，對使用連接線與射頻線圈通道隨意連接的射頻線圈測試通道進行測量，通過將對射頻線圈測試通道測量得到的測試數據與射頻線圈測試通道的取樣值進行匹配，根據匹配結果對射頻線圈測試通道進行重新定義。因此，應用本發明技術方案提供的射頻線圈測試通道的匹配方法和裝置，不需要通過識別連接射頻線圈通道和射頻線圈測試通道的連接線顏色去匹配，射頻線圈通道與射頻線圈測試通道可以隨意連接，節省了時間，有效地提高了射頻線圈測試通道的匹配效率，而且匹配時不會出錯，有利於射頻線圈的維護。
【專利附圖】
【附圖說明】
[0020]圖1是現有射頻線圈通道與射頻線圈測試裝置中對應的射頻線圈測試通道連接的不意圖；
[0021]圖2是本發明實施方式射頻線圈測試通道的匹配方法的流程示意圖；
[0022]圖3是本發明實施例的射頻線圈測試通道的匹配裝置的結構示意圖；
[0023]圖4是本發明實施例的射頻線圈通道與射頻線圈測試裝置中的射頻線圈測試通道連接的示意圖。
【具體實施方式】
[0024]正如【背景技術】中所描述的，現有的對射頻線圈測試通道的匹配是通過識別連接線的顏色來完成射頻線圈通道和射頻線圈測試裝置或磁共振系統中的射頻線圈測試通道的連接的，由於射頻線圈測試通道數量很多，需要識別每根連接線的顏色，射頻線圈測試通道的匹配過程中會花費很多時間，匹配效率低下，且識別連接線顏色時容易出錯，不利於射頻線圈的維護。因此，本技術方案的發明人經過研究，提供了一種射頻線圈測試通道的匹配方法和裝置，能夠快速完成對隨意連接的射頻線圈通道和射頻線圈測試裝置或磁共振系統中的射頻線圈測試通道之間的匹配，節省了匹配時間，有效地提高了匹配效率，且匹配過程中不易出錯，有利於射頻線圈的維護。
[0025]為使本發明的上述目的、特徵和優點能夠更為明顯易懂，下面結合附圖和實施例對本發明的【具體實施方式】做詳細的說明。
[0026]在下面的描述中闡述了很多具體細節以便於充分理解本發明，但是本發明還可以採用其他不同於在此描述的其它方式來實施，因此本發明不受下面公開的具體實施例的限制。
[0027]圖2是本發明實施方式射頻線圈測試通道的匹配方法的流程示意圖，所述射頻線圈測試通道至少包括一個，各射頻線圈測試通道的接口通過連接線與各射頻線圈通道的接頭連接。參考圖2，所述射頻線圈測試通道的匹配方法包括:
[0028]步驟S21:在所述各射頻線圈通道的接頭處接入不同阻值的取樣電阻，得到所述各射頻線圈測試通道的取樣值；[0029]步驟S22:對所述各射頻線圈測試通道進行測量，得到所述各射頻線圈測試通道的測試數據；
[0030]步驟S23:將所述各射頻線圈測試通道的測試數據與所述各射頻線圈測試通道的取樣值進行匹配，得到匹配結果；
[0031]步驟S24:根據所述匹配結果，重新定義所述各射頻線圈測試通道。
[0032]具體地，根據通道功能的不同，所述射頻線圈測試通道包括射頻通道、直流供電通道和線圈編碼通道，其中，所述射頻通道用於傳輸射頻線圈單元的控制信號，所述直流供電通道用於給與射頻線圈連接的放大器或其他單元提供工作電壓，所述線圈編碼通道用於連接射頻線圈和射頻線圈測試裝置或磁共振系統中的線圈編碼模塊。所述射頻線圈測試通道位於射頻線圈測試裝置或磁共振系統中，通過連接線無序地與所述射頻線圈通道連接。
[0033]基於上述射頻線圈測試通道的匹配方法，本發明實施例還提供了一種射頻線圈測試通道的匹配裝置，所述射頻線圈測試通道至少包括一個，各射頻線圈測試通道的接口通過連接線與各射頻線圈通道的接頭連接。請參見圖3所示的射頻線圈測試通道的匹配裝置的結構示意圖，所述射頻線圈測試通道的匹配裝置包括:
[0034]存儲單元31，用於存儲在所述各射頻線圈通道的接頭處接入不同阻值的取樣電阻後得到的所述各射頻線圈測試通道的取樣值；
[0035]測量單元32，用於對所述各射頻線圈測試通道30進行測量，得到所述各射頻線圈測試通道30的測試數據；
[0036]匹配單元33，用於將所述測量單元32測量的所述各射頻線圈測試通道的測試數據與所述存儲單元31存儲的所述各射頻線圈測試通道的取樣值進行匹配，得到匹配結果；
[0037]定義單元34，用於根據所述匹配單元33得到的匹配結果，重新定義所述各射頻線圈測試通道30。
[0038]根據所述射頻線圈測試通道的類型不同，所述射頻線圈測試通道的匹配裝置也會有所差異，為更好地對本發明的實施方式進行理解，下面結合附圖和具體的實施例對本發明技術方案射頻線圈測試通道的匹配方法及裝置的工作原理進行詳細的說明。
[0039]實施例1
[0040]在本實施例中，以所述射頻線圈測試通道是射頻線圈測試裝置中的射頻通道為例進行描述，圖4是本發明實施例的射頻線圈通道與射頻線圈測試裝置中的射頻線圈測試通道連接的示意圖。參考圖4，射頻線圈通道接頭面板41上包括m個射頻通道接頭(RF1、RF2、…、RFm)，射頻線圈測試裝置的印製電路板42上預先定義了 m個與射頻通道1、射頻通道2、…、射頻通道m對應的射頻通道接口(rfl、rf2、…、rfm)。在對所述射頻線圈測試裝置中的射頻通道進行匹配前，各射頻通道在所述印製電路板42上對應的射頻通道接口與所述射頻線圈通道接頭面板41上的接頭通過連接線隨意連接。例如，所述射頻通道I的接口 rfl與射頻通道接頭RFm連接，所述射頻通道2的接口 rf2與射頻通道接頭RFl連接，所述射頻通道m的接口 rfm與射頻通道接頭RF2連接。下面結合附圖對所述射頻通道的匹配方法進行詳細說明。
[0041]如步驟S21所述，在所述各射頻線圈通道的接頭處接入不同阻值的取樣電阻，得到所述各射頻線圈測試通道的取樣值。
[0042]參考圖4，在所述m個射頻通道接頭(RF1、RF2、…、RFm)處分別接入不同阻值的取樣電阻，例如，在所述射頻通道接頭RFl處接入取樣電阻Rl，在所述射頻通道接頭RF2處接入取樣電阻R2，…，在所述射頻通道接頭RFm處接入取樣電阻Rm，所述取樣電阻的一端與所述射頻通道接頭連接，另一端連接到地(所述取樣電阻Rl，R2，…，Rm在圖4中未示出)。在進行通道匹配時，所述各射頻通道上的電壓相同，且為確定值，為方便描述，用Vkf表示所述各射頻通道上的電壓。由於所述各射頻通道上的電壓相同，接入的取樣電阻阻值不同，得到所述各射頻通道的電流值就不同。因此，可利用所述各射頻通道的電流值作為區分所述各射頻通道的依據，將所述各射頻通道上的電壓Vkf與所述各射頻通道的接頭處接入的取樣電阻的比值作為所述各射頻通道的取樣值，即所述射頻通道I的取樣值I為VKF/R1，所述射頻通道2的取樣值2為Vkf/R2，…，所述射頻通道m的取樣值m為VKF/Rm，所述各射頻通道的取樣值存儲在所述存儲單元31中。所述取樣電阻的阻值必須在所述各射頻通道上的電壓Vkf的驅動範圍以內。
[0043]如步驟S22所述，對所述各射頻線圈測試通道進行測量，得到所述各射頻線圈測試通道的測試數據。
[0044]在所述m個射頻通道接頭(RF1、RF2、…、RFm)處接入取樣電阻後，可通過所述射頻線圈測試通道的匹配裝置的外部輸入裝置給出指令，使所述測量單元32對所述m個射頻通道接口(rfl、rf2、…、rfm)對應的射頻通道1、射頻通道2、…、射頻通道m進行測試。在本實施例中，由於所述各射頻通道的取樣值為電流值，因此，需要對各射頻通道的電流信號進行測試。進一步，所述測量單元32包括電流電壓轉換單元和模數轉換單元。所述電流電壓轉換單元用於將所述各射頻通道的電流信號轉換成電壓信號，例如，所述電流電壓轉換單元可以包括採樣電阻，所述各射頻通道的電流信號經過所述採樣電阻後就能得到所述各射頻通道的電流信號 對應的電壓信號；所述模數轉換單元用於將所述電壓信號進行模數轉換，得到所述測試數據；進一步，若所述電流電壓轉換單元得到的電壓信號的電壓值不在所述模數轉換單元的輸入範圍內，所述模數轉換單元可以先對所述電壓信號進行調整，以將所述電壓信號的電壓值調整至模數轉換的輸入範圍內。所述各射頻通道的測試數據即為所述各射頻通道的電流信號對應的數位訊號，所述射頻通道I的測試數據為測試數據1，所述射頻通道2的測試數據為測試數據2，…，所述射頻通道m的測試數據為測試數據m。
[0045]如步驟S23所述，將所述各射頻線圈測試通道的測試數據與所述各射頻線圈測試通道的取樣值進行匹配，得到匹配結果。
[0046]所述匹配單元33將所述測量單元32測量的所述各射頻通道的測試數據(測試數據1、測試數據2、…、測試數據m)與所述存儲單元31存儲的所述各射頻通道的取樣值(取樣值1、取樣值2、…、取樣值m)進行匹配。所述各射頻通道的取樣值為模擬值，不能直接與所述各射頻通道的測試數據進行匹配，因此，所述匹配單元33中預先定義了所述各射頻通道的取樣值與所述取樣值對應的數字值之間的關係。具體地，參考圖4，由於所述射頻通道I的接口 rfl與所述射頻通道接頭RFm連接，因此，所述測試數據I與所述取樣值m(Vkf/Rm)匹配；所述射頻通道2的接口 rf2與所述射頻通道接頭RFl連接，因此，所述測試數據
2與所述取樣值I (Vkf/R1)匹配；所述射頻通道m的接口 rfm與所述射頻通道接頭RF2連接，因此，所述測試數據m與所述取樣值2 (VKF/R1)匹配。所述匹配結果可以以數字「O」或「 I 」的形式輸出，即匹配時輸出數字「 I 」，不匹配則輸出數字「0」，也可以以其他形式輸出。
[0047]如步驟S24所述，根據所述匹配結果，重新定義所述各射頻線圈測試通道。[0048]具體地，由所述定義單元34根據所述匹配單元33的匹配結果對所述各射頻通道重新進行定義。參考圖4，在本實施例中，將所述射頻通道I重新定義為與所述射頻通道接頭RFm對應的射頻線圈通道匹配的射頻通道m』，將所述射頻通道2重新定義為與所述射頻通道接頭RFl對應的射頻線圈通道匹配的射頻通道I 』，將所述射頻通道m重新定義為與所述射頻通道接頭RF2對應的射頻線圈通道匹配的射頻通道2』。
[0049]重新進行定義之後，當需要對所述射頻通道接頭RFl對應的射頻線圈通道進行操作時(例如調諧/失諧控制)，通過控制線圈測試裝置上的所述射頻通道2即可；當需要對所述射頻通道接頭RF2對應的射頻線圈通道進行操作時，通過控制線圈測試裝置上的所述射頻通道m即可；當需要對所述射頻通道接頭RFm對應的射頻線圈通道進行操作時，通過控制線圈測試裝置上的所述射頻通道I即可。
[0050]實施例2
[0051]在本實施例中，以所述射頻線圈測試通道是射頻線圈測試裝置中的直流供電通道為例進行描述，參考圖4，所述射頻線圈通道接頭面板41上包括η個直流供電通道接頭(DCl、DC2、…、DCn )，所述射頻線圈測試裝置的印製電路板42上預先定義了 η個與直流供電通道1、直流供電通道2、.…、直流供電通道η對應的直流供電通道接口(del、dc2、…、dcn)。在對所述射頻線圈測試裝置中的直流供電通道匹配前，各直流供電通道在所述印製電路板42上對應的直流供電通道接口與所述射頻線圈通道接頭面板41上的接頭通過連接線隨意連接。例如，所述直流供電通道I的接口 del與直流供電通道接頭DCn連接，所述直流供電通道2的接口 dc2與直流供電通道接頭DCl連接，所述直流供電通道η的接口 dcn與直流供電通道接 頭DC2連接。
[0052]由於所述各直流供電通道用於給與射頻線圈連接的放大器或其他單元提供工作電壓，所述各直流供電通道上的電壓相同，因此，所述直流供電通道的匹配方法與所述射頻通道的匹配方法相同，在此不再贅述。參考圖4，在本實施例中，將所述直流供電通道接口del對應的直流供電通道I重新定義為與所述直流供電通道接頭DCn對應的射頻線圈通道匹配的直流供電通道η』，將所述直流供電通道接口 dc2對應的直流供電通道2重新定義為與所述直流供電通道接頭DCl對應的射頻線圈通道匹配的直流供電通道1』，將所述直流供電通道接口 dcn對應的直流供電通道η重新定義為與所述直流供電通道接頭DC2對應的射頻線圈通道匹配的直流供電通道2』。
[0053]實施例3
[0054]在本實施例中，以所述射頻線圈測試通道是射頻線圈測試裝置中的線圈編碼通道為例進行描述，繼續參考圖4，所述射頻線圈通道接頭面板41上包括ρ個線圈編碼通道接頭(C0DE1、C0DE2、…、CODEp)，所述射頻線圈測試裝置的印製電路板42上預先定義了 ρ個與線圈編碼通道1、線圈編碼通道2、…、線圈編碼通道ρ對應的線圈編碼通道接口(codel、code2、.…、codep)。在對所述射頻線圈測試裝置中的線圈編碼通道進行匹配前,各線圈編碼通道在所述印製電路板42上對應的線圈編碼通道接口與所述射頻線圈通道接頭面板41上的接頭通過連接線隨意連接。例如，所述線圈編碼通道I的接口 codel與線圈編碼通道接頭CODEp連接，所述線圈編碼通道2的接口 code2與線圈編碼通道接頭CODEl連接，所述線圈編碼通道ρ的接口 cod印與線圈編碼通道接頭C0DE2連接。
[0055]由於所述各線圈編碼通道用於連接射頻線圈和射頻線圈測試裝置中的線圈編碼模塊，因此與實施例1和實施例2不同的是，在存儲單元31中存儲的是所述P個線圈編碼通道接頭(C0DE1、C0DE2、…、CODEp)處接入的取樣電阻的識別碼，所述識別碼是根據所述取樣電阻的阻值預先定義的。
[0056]在本實施例中，對所述ρ個線圈編碼通道接口(codel、code2、…、codep)對應的線圈編碼通道1、線圈編碼通道2、…、線圈編碼通道ρ進行測試，測試的是所述各線圈編碼通道接頭處接入的取樣電阻的識別碼。具體地，由所述測量單元32給所述各線圈編碼通道施加一個預定電流並測量所述各線圈編碼通道在通過所述預定電流時的電壓。根據歐姆公式電壓=電阻*電流，可得到所述各線圈編碼通道的電阻，繼而得到所述各線圈編碼通道的電阻對應的識別碼，所述識別碼是依據所述各射頻線圈通道的接頭處接入的取樣電阻的阻值預先定義的。所述測試數據即為所述各線圈編碼通道的電阻對應的識別碼。
[0057]所述匹配單元33將所述測量單元32測量的所述各線圈編碼通道的測試數據與所述存儲單元31存儲的所述各線圈編碼通道的取樣值進行匹配，具體實現方式可參考實施例1，在此不再贅述。
[0058]進行匹配之後，參考圖4，在本實施例中，將所述線圈編碼通道接口 codel對應的線圈編碼通道I重新定義為與所述線圈編碼通道接頭CODEp對應的射頻線圈通道匹配的線圈編碼通道P』，將所述線圈編碼通道接口 Code2對應的線圈編碼通道2重新定義為與所述線圈編碼通道接頭CODEl對應的射頻線圈通道匹配的線圈編碼通道1』，將所述線圈編碼通道接口 codep對應的線圈編碼通道ρ重新定義為與所述線圈編碼通道接頭C0DE2對應的射頻線圈通道匹配的線圈編碼通道2』。
[0059]本發明實施例還提供了一種射頻線圈測試裝置，包括與射頻線圈通道連接的射頻線圈測試通道，還包括 上述射頻線圈測試通道的匹配裝置。
[0060]本發明實施例還提供了一種磁共振系統，包括射頻線圈、與射頻線圈通道連接的射頻線圈測試通道，還包括上述射頻線圈測試通道的匹配裝置。
[0061]所述射頻線圈測試通道的匹配裝置的結構可以如圖3所示。
[0062]綜上所述，本發明技術方案提供的射頻線圈測試通道的匹配方法和裝置，能夠迅速地完成對隨意連接的射頻線圈通道和射頻線圈測試裝置或磁共振系統中的射頻線圈測試通道之間的匹配，節省了匹配時間，有效地提高了匹配效率，且匹配過程中不易出錯，有利於射頻線圈的維護。
[0063]本發明雖然已以較佳實施例公開如上，但其並不是用來限定本發明，任何本領域技術人員在不脫離本發明的精神和範圍內，都可以利用上述揭示的方法和技術內容對本發明技術方案做出可能的變動和修改，因此，凡是未脫離本發明技術方案的內容，依據本發明的技術實質對以上實施例所作的任何簡單修改、等同變化及修飾，均屬於本發明技術方案的保護範圍。
【權利要求】
1.一種射頻線圈測試通道的匹配方法，所述射頻線圈測試通道至少包括一個，各射頻線圈測試通道的接口通過連接線與各射頻線圈通道的接頭連接，其特徵在於，包括: 在所述各射頻線圈通道的接頭處接入不同阻值的取樣電阻，得到所述各射頻線圈測試通道的取樣值； 對所述各射頻線圈測試通道進行測量，得到所述各射頻線圈測試通道的測試數據； 將所述各射頻線圈測試通道的測試數據與所述各射頻線圈測試通道的取樣值進行匹配，得到匹配結果； 根據所述匹配結果，重新定義所述各射頻線圈測試通道。
2.根據權利要求1所述的射頻線圈測試通道的匹配方法，其特徵在於，所述射頻線圈測試通道為射頻通道，所述各射頻線圈測試通道的取樣值為所述各射頻線圈測試通道上的電壓與所述各射頻線圈通道的接頭處接入的取樣電阻的比值。
3.根據權利要求1所述的射頻線圈測試通道的匹配方法，其特徵在於，所述射頻線圈測試通道為直流供電通道，所述各射頻線圈測試通道的取樣值為所述各射頻線圈測試通道上的電壓與所述各射頻線圈通道的接頭處接入的取樣電阻的比值。
4.根據權利要求2或3所述的射頻線圈測試通道的匹配方法，其特徵在於，所述對所述各射頻線圈測試通道進行測量，得到所述各射頻線圈測試通道的測試數據包括: 將所述各射頻線圈測試通道的電流信號轉換成電壓信號； 對所述電壓信號進行模數轉換，得到所述測試數據。
5.根據權利要求1所述的射頻線圈測試通道的匹配方法，其特徵在於，所述射頻線圈測試通道為線圈編碼通道，所述各射頻線圈測試通道的取樣值為所述各射頻線圈通道的接頭處接入的取樣電阻的識別碼。
6.根據權利要求5所述的射頻線圈測試通道的匹配方法，其特徵在於，所述測試數據為所述取樣電阻的識別碼。
7.根據權利要求6所述的射頻線圈測試通道的匹配方法，其特徵在於，所述識別碼是依據所述各射頻線圈通道的接頭處接入的取樣電阻的阻值預先定義的。
8.一種射頻線圈測試通道的匹配裝置，所述射頻線圈測試通道至少包括一個，各射頻線圈測試通道的接口通過連接線與各射頻線圈通道的接頭連接，其特徵在於，包括: 存儲單元，用於存儲在所述各射頻線圈通道的接頭處接入不同阻值的取樣電阻後得到的所述各射頻線圈測試通道的取樣值； 測量單元，用於對所述各射頻線圈測試通道進行測量，得到所述各射頻線圈測試通道的測試數據； 匹配單元，用於將所述測量單元測量的所述各射頻線圈測試通道的測試數據與所述存儲單元存儲的所述各射頻線圈測試通道的取樣值進行匹配，得到匹配結果； 定義單元，用於根據所述匹配單元得到的匹配結果，重新定義所述各射頻線圈測試通道。
9.根據權利要求8所述的射頻線圈測試通道的匹配裝置，其特徵在於，所述射頻線圈測試通道為射頻通道，所述各射頻線圈測試通道的取樣值為所述各射頻線圈測試通道上的電壓與所述各射頻線圈通道的接頭處接入的取樣電阻的比值。
10.根據權利要求8所述的射頻線圈測試通道的匹配裝置，其特徵在於，所述射頻線圈測試通道為直流供電通道，所述各射頻線圈測試通道的取樣值為所述各射頻線圈測試通道上的電壓與所述各射頻線圈通道的接頭處接入的取樣電阻的比值。
11.根據權利要求9或10所述的射頻線圈測試通道的匹配裝置，其特徵在於，所述測試量單元包括: 電流電壓轉換單元，用於將所述各射頻線圈測試通道的電流信號轉換成電壓信號； 模數轉換單元，用於將所述電壓信號進行模數轉換，得到所述測試數據。
12..根據權利要求8所述的射頻線圈測試通道的匹配裝置，其特徵在於，所述射頻線圈測試通道為線圈編碼通道，所述各射頻線圈測試通道的取樣值為所述各射頻線圈通道的接頭處接入的取樣電阻的識別碼。
13.根據權利要求12所述的射頻線圈測試通道的匹配裝置，其特徵在於，所述測試數據為所述取樣電阻的識別碼。
14.根據權利要求13所述的射頻線圈測試通道的匹配裝置，其特徵在於，所述識別碼是依據所述各射頻線圈通道的接頭處接入的取樣電阻的阻值預先定義的。
15.一種射頻線圈測試裝置，包括射頻線圈測試通道，其特徵在於，還包括權利要求8至14任一項所述的射頻線圈測試通道的匹配裝置。
16.一種磁共振系統，包括射頻線圈和射頻線圈測試通道，其特徵在於，還包括權利要求8至14任一項所述的射頻線圈測試通道的匹配裝置。
【文檔編號】G01R33/20GK103901370SQ201210588056
【公開日】2014年7月2日 申請日期:2012年12月30日 優先權日:2012年12月30日
【發明者】陽昭衡 申請人:上海聯影醫療科技有限公司