一種靜電保護電路、顯示面板及顯示裝置的製作方法

2023-12-11 17:23:02

本實用新型涉及顯示技術領域，尤指一種靜電保護電路、顯示面板及顯示裝置。

背景技術：

顯示面板的製備包括陣列基板工序、彩膜基板工序以及陣列基板與彩膜基板的對盒(Cell)工序，一般在進行Cell工序時要進行面板功能測試(Cell Test)。以通過Cell Test檢測面板在Array、CF、Cell這三個工序中出現的不良，把不良的產品去除。目前Cell Test常用的方法是在顯示面板的周邊區域設置Shorting bar，並將顯示面板顯示區域中的所有的掃描線和信號線分別與Shorting bar連接，然後再通過Shorting bar進行R/G/B/W畫面測試。一旦測試完成，就將顯示面板中設置有Shorting bar的區域採用雷射切割設備切除。另外，在顯示面板的製備時，很多工序中都可能會產生靜電，為了避免靜電對產品的損傷，在顯示面板中一般均設置有靜電保護電路。

因此，在現有的顯示面板設計中，靜電保護電路和Cell Test電路佔用了很大的布線空間，使面板的顯示區域相對面積更小。並且，現有技術中，為了切除顯示面板中設置有Shorting bar的區域還需要配備專門的雷射切割設備，成產成本較高。

技術實現要素：

本實用新型實施例提供一種靜電保護電路、顯示面板及顯示裝置，既可以實現靜電保護功能，又可以實現Cell Test功能，且結構簡單、布線空間較小，不需要進行切割。

本實用新型實施例提供的一種靜電保護電路，包括：第一放電控制模塊、放電模塊、第一信號端、第二信號端和測試控制信號端；其中，

所述第一放電控制模塊的輸入端分別與所述第一信號端和所述放電模塊的第一端相連，所述第一放電控制模塊的輸出端分別與所述放電模塊的控制端和所述測試控制信號端相連，所述放電模塊的第二端與所述第二信號端相連；

所述放電模塊用於在所述測試控制信號端接收到測試控制信號時，將第一信號端與第二信號端導通；所述第一放電控制模塊用於在所述第一信號端聚集的靜電的數量超過預設值時控制所述放電模塊通過所述的第二信號端釋放所述第一信號端聚集的靜電。

較佳地，在本實用新型實施例提供的上述靜電保護電路中，還包括：第二放電控制模塊；其中，

所述第二放電控制模塊的輸入端與所述第二信號端相連，所述第二放電控制模塊的輸出端和所述測試控制信號端相連；

所述第二放電控制模塊用於在所述第二信號端聚集的靜電的數量超過預設值時控制所述放電模塊通過所述第一信號端釋放所述第二信號端聚集的靜電。

較佳地，在本實用新型實施例提供的上述靜電保護電路中，所述第一放電控制模塊包括：第一二極體；其中，

所述第一二極體的正極為所述第一放電控制模塊的輸入端，負極為所述第一放電控制模塊的輸出端。

較佳地，在本實用新型實施例提供的上述靜電保護電路中，所述第一二極體由第一開關電晶體組成；其中，

所述第一開關電晶體為N型電晶體，所述第一開關電晶體的柵極與漏極相連為所述第一二極體的正極，所述第一開關電晶體的源極為所述第一二極體的負極；

所述第一開關電晶體為P型電晶體，所述第一開關電晶體的柵極與源極相連為所述第一二極體的負極，所述第一開關電晶體的漏極為所述第一二極體的正極。

較佳地，在本實用新型實施例提供的上述靜電保護電路中，所述第二放電控制模塊包括：第二二極體；其中，

所述第二二極體的正極為所述第二放電控制模塊的輸入端，負極為所述第二放電控制模塊的輸出端。

較佳地，在本實用新型實施例提供的上述靜電保護電路中，所述第二二極體由第二開關電晶體組成；其中，

所述第二開關電晶體為N型電晶體，所述第二開關電晶體的柵極與漏極相連為所述第二二極體的正極，所述第二開關電晶體的源極為所述第二二極體的負極；

所述第二開關電晶體為P型電晶體，所述第二開關電晶體的柵極與源極相連為所述第二二極體的負極，所述第二開關電晶體的漏極為所述第二二極體的正極。

較佳地，在本實用新型實施例提供的上述靜電保護電路中，所述放電模塊包括：第三開關電晶體；其中，

所述第三開關電晶體的柵極為所述放電模塊的控制端，源極為所述放電模塊的第一端，漏極為所述放電模塊的第二端。

相應地，本實用新型實施例還提供了一種顯示面板，包括多條柵線，多條數據線，以及與所述柵線和數據線連接的像素單元，還包括：

與各所述柵線一一對應第一靜電保護電路，以及與各所述數據線一一對應的第二靜電保護電路；其中所述第一靜電保護電路和所述第二靜電保護電路均為本實用新型實施例提供的上述任一種靜電保護電路；且各所述第一靜電保護電路的第一信號端與對應的柵線相連，各所述第二靜電保護電路的第一信號端與對應的數據線相連；

與各所述第一靜電保護電路的測試控制信號端相連的第一控制信號輸入線；

與各所述第二靜電保護電路的測試控制信號端相連的第二控制信號輸入線；

分別與各所述第一靜電保護電路的第二信號端相連的第一靜電保護線和柵極信號輸入線；

分別與各所述第二靜電保護電路的第二信號端相連的第二靜電保護線和數據信號輸入線。

較佳地，在本實用新型實施例提供的上述顯示面板中，所述第一控制信號輸入線與所述第二控制信號輸入線相連。

較佳地，在本實用新型實施例提供的上述顯示面板中，所述第一靜電保護線與所述第二靜電保護線相連。

相應地，本實用新型實施例還提供了一種顯示裝置，包括本實用新型實施例提供的上述任一種顯示面板。

本實用新型有益效果如下：

本實用新型實施例提供的一種靜電保護電路、顯示面板及顯示裝置，其中靜電保護電路包括：第一放電控制模塊、放電模塊、第一信號端、第二信號端和測試控制信號端。第一放電控制模塊可以用於在第一信號端聚集的靜電的數量超過預設值時控制放電模塊通過第二信號端釋放第一信號端聚集的靜電。這樣當上述靜電保護電路應用於顯示面板中時，將顯示面板上的信號線連到第一信號端，當顯示面板上的信號線上的靜電的數量達到一定程度時，可以通過該靜電保護電路的第二信號端及時釋放掉，從而避免對面板造成靜電損傷。而當顯示面板需要進行Cell Test時，由於放電模塊可以在測試控制信號端接收到測試控制信號時，將第一信號端與第二信號端導通，這樣通過控制測試控制信號端，利用第二信號端向第一信號端輸入測試需要的信號，從而能夠實現Cell Test的功能。與現有顯示面板中即設計有靜電保護電路， 又設計有Shorting bar相比，僅需要通過一個電路就能實現靜電保護和Cell Test的功能，從而可以減小布線空間，並且還省去了現有技術中切除Shorting bar區域的步驟。

附圖說明

圖1為本實用新型實施例提供的靜電保護電路的結構示意圖之一；

圖2為本實用新型實施例提供的靜電保護電路的結構示意圖之二；

圖3a為本實用新型實施例提供的靜電保護電路的具體結構示意圖之一；

圖3b為本實用新型實施例提供的靜電保護電路的具體結構示意圖之二；

圖4a為本實用新型實施例提供的靜電保護電路的具體結構示意圖之三；

圖4b為本實用新型實施例提供的靜電保護電路的具體結構示意圖之四；

圖5a為本實用新型實施例提供的靜電保護電路的具體結構示意圖之五；

圖5b為本實用新型實施例提供的靜電保護電路的具體結構示意圖之六；

圖6為本實用新型實施例提供的顯示面板的結構示意圖之一；

圖7為本實用新型實施例提供的顯示面板的結構示意圖之二。

具體實施方式

下面結合附圖，對本實用新型優選實施例提供的一種靜電保護電路、顯示面板及顯示裝置的具體實施方式進行詳細地說明。

本實用新型實施例提供的一種靜電保護電路，如圖1所示，包括：第一放電控制模塊1、放電模塊2、第一信號端S1、第二信號端S2和測試控制信號端test；其中，

第一放電控制模塊1的輸入端分別與第一信號端S1和放電模塊2的第一端相連，第一放電控制模塊1的輸出端分別與放電模塊2的控制端和測試控制信號端test相連，放電模塊2的第二端與第二信號端S2相連；

放電模塊2用於在測試控制信號端test接收到測試控制信號時，將第一信 號端S1與第二信號端S2導通；第一放電控制模塊1用於在第一信號端S1聚集的靜電的數量超過預設值時控制放電模塊2通過第二信號端S2釋放第一信號端S1聚集的靜電。

本實用新型實施例提供的上述靜電保護電路，包括：第一放電控制模塊、放電模塊、第一信號端、第二信號端和測試控制信號端。第一放電控制模塊可以用於在第一信號端聚集的靜電的數量超過預設值時控制放電模塊通過第二信號端釋放第一信號端聚集的靜電。這樣當上述靜電保護電路應用於顯示面板中時，將顯示面板上的信號線連到第一信號端，當顯示面板上的信號線上的靜電的數量達到一定程度時，可以通過該靜電保護電路的第二信號端及時釋放掉，從而避免對面板造成靜電損傷。而當顯示面板需要進行Cell Test時，由於放電模塊可以在測試控制信號端接收到測試控制信號時，將第一信號端與第二信號端導通，這樣通過控制測試控制信號端，利用第二信號端向第一信號端輸入測試需要的信號，從而能夠實現Cell Test的功能。與現有顯示面板中即設計有靜電保護電路，又設計有Shorting bar相比，僅需要通過一個電路就能實現靜電保護和Cell Test的功能，從而可以減小布線空間，並且還省去了現有技術中切除Shorting bar區域的步驟。

本實用新型實施例提供的上述靜電保護電路，可以通過第二信號端釋放掉第一信號端聚集的靜電。但是在具體實施時，第二信號端也可能聚集靜電，並且第二信號端聚集的靜電如果不及時釋放掉，也可能損傷靜電保護電路。因此，較佳地，在本實用新型實施例提供的上述靜電保護電路中，如圖2所示，還包括：第二放電控制模塊3；其中，

第二放電控制模塊3的輸入端與第二信號端S2相連，第二放電控制模塊3的輸出端和測試控制信號端test相連；

第二放電控制模塊3用於在第二信號端S2聚集的靜電的數量超過預設值時控制放電模塊2通過第一信號端S1釋放第二信號端S2聚集的靜電。

下面結合具體實施例，對本實用新型進行詳細說明。需要說明的是，本實 施例中是為了更好的解釋本實用新型，但不限制本實用新型。

較佳地，在本實用新型實施例提供的上述靜電保護電路中，如圖3a和圖3b所示，第一放電控制模塊1包括：第一二極體D1；其中，

第一二極體D1的正極為第一放電控制模塊的輸入端，負極為第一放電控制模塊的輸出端。

這樣，當第一信號端聚集的靜電的數量達到預設值時，第一二極體會處於導通狀態，控制放電模塊處於導通狀態，導通的放電模塊將第一信號端的的靜電通過第二信號端釋放掉。

進一步地，在本實用新型實施例提供的上述靜電保護電路中，如圖4a至圖5b所示，第一二極體D1由第一開關電晶體T1組成；其中，

如圖4a和圖5a所示，第一開關電晶體T1為N型電晶體，第一開關電晶體T1的柵極與漏極相連為第一二極體D1的正極，第一開關電晶體T1的源極為第一二極體D1的負極；

或者，如圖4b和圖5b所示，第一開關電晶體T1為P型電晶體，第一開關電晶體T1的柵極與源極相連為第一二極體D1的負極，第一開關電晶體T1的漏極為第一二極體D1的正極。

以上僅是舉例說明第一放電控制模塊的具體結構，在具體實施時，第一放電控制模塊的具體結構不限於本實用新型實施例提供的上述結構，還可以是本領域技術人員可知的其他結構，在此不做限定。

較佳地，在本實用新型實施例提供的上述靜電保護電路中，如圖3b所示，第二放電控制模塊3包括：第二二極體D2；其中，

第二二極體D2的正極為第二放電控制模塊3的輸入端，負極為第二放電控制模塊3的輸出端。

這樣，當第二信號端聚集的靜電的數量達到預設值時，第二二極體會處於導通狀態，控制放電模塊處於導通狀態，導通的放電模塊將第二信號端的的靜電通過第一信號端釋放掉。

進一步地，在本實用新型實施例提供的上述靜電保護電路中，如圖5a和圖5b所示，第二二極體D2由第二開關電晶體T2組成；其中，

如圖5a所示，第二開關電晶體T2為N型電晶體，第二開關電晶體T2的柵極與漏極相連為第二二極體D2的正極，第二開關電晶體T2的源極為第二二極體D2的負極；

或者，如圖5b所示，第二開關電晶體T2為P型電晶體，第二開關電晶體T2的柵極與源極相連為第二二極體D2的負極，第二開關電晶體T2的漏極為第二二極體D2的正極。

以上僅是舉例說明第二放電控制模塊的具體結構，在具體實施時，第二放電控制模塊的具體結構不限於本實用新型實施例提供的上述結構，還可以是本領域技術人員可知的其他結構，在此不做限定。

較佳地，在本實用新型實施例提供的上述靜電保護電路中，如圖4a至圖5b所示，放電模塊2包括：第三開關電晶體T3；其中，

第三開關電晶體T3的柵極為放電模塊2的控制端，源極為放電模塊2的第一端，漏極為放電模塊2的第二端。

這樣當第三開關電晶體導通時，可以使第一信號端與第二信號端處於導通狀態，當該靜電保護電路處於靜電保護狀態時，導通的第一信號端和第二信號端可以釋放靜電，當該靜電保護電路處於Cell Test狀態時，導通的第一信號端和第二信號端可以進行信號的傳輸。

在具體實施時，在本實用新型實施例提供的上述靜電保護電路中，第三開關電晶體為N型電晶體。

以上僅是舉例說明放電模塊的具體結構，在具體實施時，放電模塊的具體結構不限於本實用新型實施例提供的上述結構，還可以是本領域技術人員可知的其他結構，在此不做限定。

較佳地，在本實用新型實施例提供的上述靜電保護電路中，為了簡化製作工藝難度，開關電晶體一般均採用相同材質的電晶體。因此，在具體實施時， 上述所有開關電晶體均採用N型電晶體。

需要說明的是，N型電晶體在其柵極電位為高電位時處於導通狀態，在其柵極電位為低電位時，處於截止狀態。P型電晶體在其柵極電位為低電位時處於導通狀態，在其柵極電位為高電位時，處於截止狀態。

進一步地，在本實用新型上述實施例中提到的開關電晶體可以是薄膜電晶體(TFT，Thin Film Transistor)，也可以是金屬氧化物半導體場效應管(MOS，Metal Oxide Semiconductor)，在此不做限定。在具體實施中，這些開關電晶體的源極和漏極根據電晶體類型以及輸入信號的不同，其功能可以互換，在此不做具體區分。

下面以圖5a所示的靜電保護電路為例，具體說明本實用新型實施例提供的上述靜電保護電路的具體工作原理。如圖5a所示，所有開關電晶體均為N型電晶體。

在進行Cell Test時，測試控制信號端接收的測試控制信號為高電位信號。

這時，測試控制信號端控制第三開關電晶體T3處於導通狀態，這樣當向第一信號端S1或第二信號端S2輸入測試用信號時，顯示面板上的信號線就可以通過第二信號端S2或第一信號端S1接收該測試用信號，從而實現Cell Test功能。

在進行靜電保護時，測試控制信號端接收的測試控制信號為低電位信號。

當第一信號端S1聚集的正靜電的數量超過預設值時，第一開關電晶體T1導通，導通的第一開關電晶體T1使第三開關電晶體T3的柵極的電位變為高電位，第三開關電晶體T3導通，從而第一信號端S1聚集的正靜電經過導通的第三開關電晶體T3從第二信號端S2釋放掉。同理，當第二信號端S2聚集的正靜電的數量超過預設值時，第二開關電晶體T2導通，導通的第二開關電晶體T2使第三開關電晶體T3的柵極的電位變為高電位，第三開關電晶體T3導通，從而第二信號端S2聚集的正靜電經過導通的第三開關電晶體T3從第一信號端S1釋放掉。

當第一信號端S1聚集的負靜電的數量超過預設值時，此時由於測試控制信號端test接收的測試控制信號為低電位信號(電壓值一般為-10v至-5v)，與第一信號端S1聚集的大量負靜電相比，測試控制信號端test的電位可以看作是正電位，因此第三開關電晶體T3導通，從而第一信號端S1聚集的負靜電經過導通的第三開關電晶體T3從第二信號端S2釋放掉。同理，當第二信號端S2聚集的負靜電的數量超過預設值時，此時由於測試控制信號端test接收的測試控制信號為低電位信號(電壓值一般為-10v至-5v)，與第二信號端S2聚集的大量負靜電相比，測試控制信號端test的電位可以看作是正電位，因此第三開關電晶體T3導通，從而第二信號端S2聚集的負靜電經過導通的第三開關電晶體T3從第一信號端S1釋放掉。

另外，上述靜電保護電路，在進行靜電保護時，當第一信號端和第二信號端的靜電數量較少時，由於測試控制信號端接收的測試控制信號為低電位信號，因此測試控制信號端可以更好的使第三開關電晶體T3截止，從而使第三開關電晶體T3的漏電流更小。

基於同一實用新型構思，本實用新型實施例還提供了一種顯示面板，如圖6所示，包括多條柵線gate，多條數據線data，以及與柵線gate和數據線data連接的像素單元，還包括：

與各柵線gate一一對應第一靜電保護電路11，以及與各數據線data一一對應的第二靜電保護電路12；其中第一靜電保護電路11和第二靜電保護電路12均本實用新型實施例提供上述任一種靜電保護電路；且各第一靜電保護電路11的第一信號端S1與對應的柵線gate相連，各第二靜電保護電路12的第一信號端S1與對應的數據線data相連；

與各第一靜電保護電路11的測試控制信號端test相連的第一控制信號輸入線t line1；

與各第二靜電保護電路12的測試控制信號端test相連的第二控制信號輸入線t line2；

分別與各第一靜電保護電路11的第二信號端S2相連的第一靜電保護線ESD line1和柵極信號輸入線g line；

分別與各第二靜電保護電路12的第二信號端相連的第二靜電保護線ESD line2和數據信號輸入線d line。

本實用新型實施例提供的上述顯示面板，當進行Cell Test時，第一控制信號輸入線控制各第一靜電保護電路將柵極信號輸入線輸入的測試用信號提供給對應各柵線，第二控制信號輸入線控制各第二靜電保護電路將數據信號輸入線輸入的測試用信號提供給對應各數據線，從而實現Cell Test功能。在需要進行靜電保護時，各柵線上聚集的靜電可以通過第一靜電保護電路從第一靜電保護線釋放掉，各數據線上聚集的靜電可以通過第而靜電保護電路從第二靜電保護線釋放掉，從而實現靜電保護功能。

較佳地，在本實用新型實施例提供的上述顯示面板中，如圖7所示，第一控制信號輸入線t line1與第二控制信號輸入線t line2相連。

較佳地，在本實用新型實施例提供的上述顯示面板中，如圖7所示，第一靜電保護線ESD line1與第二靜電保護線ESD line2相連。

基於同一實用新型構思，本實用新型實施例還提供了一種顯示裝置，包括本實用新型實施例提供的上述顯示面板。該顯示裝置可以為：手機、平板電腦、電視機、顯示器、筆記本電腦、數碼相框、導航儀等任何具有顯示功能的產品或部件。該顯示裝置的實施可以參見上述顯示面板的實施例，重複之處不再贅述。

本實用新型實施例提供的一種靜電保護電路、顯示面板及顯示裝置，其中靜電保護電路包括：第一放電控制模塊、放電模塊、第一信號端、第二信號端和測試控制信號端。第一放電控制模塊可以用於在第一信號端聚集的靜電的數量超過預設值時控制放電模塊通過第二信號端釋放第一信號端聚集的靜電。這樣當上述靜電保護電路應用於顯示面板中時，將顯示面板上的信號線連到第一信號端，當顯示面板上的信號線上的靜電的數量達到一定程度 時，可以通過該靜電保護電路的第二信號端及時釋放掉，從而避免對面板造成靜電損傷。而當顯示面板需要進行Cell Test時，由於放電模塊可以在測試控制信號端接收到測試控制信號時，將第一信號端與第二信號端導通，這樣通過控制測試控制信號端，利用第二信號端向第一信號端輸入測試需要的信號，從而能夠實現Cell Test的功能。與現有顯示面板中即設計有靜電保護電路，又設計有Shorting bar相比，僅需要通過一個電路就能實現靜電保護和Cell Test的功能，從而可以減小布線空間，並且還省去了現有技術中切除Shorting bar區域的步驟。

顯然，本領域的技術人員可以對本實用新型進行各種改動和變型而不脫離本實用新型的精神和範圍。這樣，倘若本實用新型的這些修改和變型屬於本實用新型權利要求及其等同技術的範圍之內，則本實用新型也意圖包含這些改動和變型在內。