用來調整光學儲存裝置的寫入策略參數的方法及其系統的製作方法

2023-12-12 08:36:12 2

專利名稱：用來調整光學儲存裝置的寫入策略參數的方法及其系統的製作方法
技術領域：
本發明是有關於光學儲存裝置的寫入策略調整(write strategytuning)，尤指一種用來調整(tune)光學儲存裝置的寫入策略參數的方法及系統。
背景技術：
由於多媒體應用持續發展，儲存大量數字資料的需求遂快速地成長。於是，儲存容量高且體積小巧的光學儲存媒體，例如可記錄式光碟片(CompactDisc-Recordable disc，CD-R disc)或DVD±R規格的數字多用途光碟片(Digital Versatile Disc，DVD)，就變得愈來愈流行，且光學儲存裝置，例如光碟機(CD drive)或數字多用途光碟機(DVD drive)，已成為個人計算機的標準配備，用來進行上述的多媒體應用。
以上述的光碟機為例，當該光碟機被控制以將資料寫入一可記錄式(CD-R)光碟片時，該光碟機中一雷射二極體的寫入功率(writing power)通常是被設為一特定值，而對應於該資料的多個寫入脈衝(write pulse)則被用於在CD-R光碟片的溝槽(groove)上將該資料記錄成多個凹洞(pit)與平面(land)。該寫入功率的該特定值可從一最佳化功率校正(optimal power calibration，OPC)程序來取得。另一方面，透過一寫入策略調整(write strategy tuning)程序，亦稱為一記錄策略調整(recording strategy tuning)程序，藉由改變用來控制寫入脈衝的寬度的寫入策略參數，可增加該CD-R光碟片上凹洞與平面的長度的精確度。請參考CD-R光碟片規格的相關文件，例如橘皮書第一部(Orange Book Part I)，以取得更多信息。
通常公知技術會利用一特定裝置，例如一示波器，來檢驗並調整寫入策略。預先以試誤性寫入將預設資料寫入光碟片中，再於示波器上檢視多個重建波形(reproduced waveform)的眼狀圖(eye pattern)，用來控制寫入脈衝的寬度，而新的一組寫入策略參數通常是由工程師或研究員在觀測到眼狀圖後、基於經驗來決定。然而，使用這個方法會耗費該工程師或研究員許多時間，這是因為同樣的程序必須針對各種媒體以及不同的記錄速度而被重複地進行；這些需要重複進行的程序至少包括寫入測試資料、檢視示波器上所顯示的重建波形的眼狀圖、以及借著經驗依據該眼狀圖來決定新的一組寫入策略參數。上述的寫入策略調整程序相當耗時，這是由於藉由檢視眼狀圖來決定這些寫入策略參數並非自動的運作。另外，由於借著經驗依據該眼狀圖來決定新的一組寫入策略參數並不是定量的，因此上述的寫入策略調整程序整體而言是不明確的(indefinite)。在某些狀況下，含糊不清的眼狀圖甚至會干擾該寫入策略調整程序或使該寫入策略調整程序失效。
一些特定的儀器，例如時間間距分析儀(time interval analyzer，TIA)或抖動計量器(jitter meter)，可能有助於取得用來決定新的一組寫入策略參數的信息。然而，還是有類似的例行工作必須進行，且若該時間間距分析儀或該抖動計量器是簡單地被耦接以供量測之用而不設置額外的控制系統，則手動調整程序所造成的相同缺點仍然存在。另外，自該特定儀器所取得的信息的意義通常是隱含的(implicit)，因此，即使是經驗豐富的工程師或研究員也可能需要耗費許多時間才能據以決定新的一組寫入策略參數。

發明內容
本發明的目的之一在於提供用來調整(tune)一光學儲存裝置的寫入策略參數(write strategy parameter)的方法與系統。
本發明的一實施例揭露一種用來調整一光學儲存裝置的多個寫入策略參數的方法。該方法包含有檢測多個長度，每一長度對應於該光學儲存裝置所存取(access)的一光學儲存媒體上的一凹洞(pit)或一平面(land)；以及依據該多個長度與多個資料集類型(data set type)進行計算，以產生分別對應於各個資料集類型的計算結果。每一資料集類型對應於至少一特定目標(target)凹洞長度與一特定目標平面長度的組合、或至少一特定目標平面長度與一特定目標凹洞長度的組合，其中該組合對應於一特定寫入策略參數。所產生的計算結果被使用於分別對各個資料集類型的寫入策略參數做調整。
本發明的另一實施例揭露一種用來調整一光學儲存裝置的多個寫入策略參數的系統。該系統包含有一檢測器、一計算模塊、與一控制器，其中該計算模塊是耦接至該檢測器，而該控制器是耦接至該計算模塊與該檢測器。該檢測器檢測多個長度，每一長度對應於該光學儲存裝置所存取的一光學儲存媒體上的一凹洞或一平面。該計算模塊依據該多個長度與多個資料集類型進行計算，以產生分別對應於各個資料集類型的計算結果。每一資料集類型對應於至少一特定目標凹洞長度與一特定目標平面長度的組合、或至少一特定目標平面長度與一特定目標凹洞長度的組合，其中該組合對應於一特定寫入策略參數。該控制器使用所產生的計算結果，分別調整對應於各個資料集類型的寫入策略參數。


圖1為本發明一實施例中、一系統控制器與一個八對十四調變長度量測裝置(eight-to-fourteen modulation length measurement device，EFMlength measurement device)的組合的示意圖。
圖2為依據本發明一實施例、用來調整(tune)一光學儲存裝置的寫入策略參數(write strategy parameter)的方法的流程圖。
圖3為圖2所示的方法中所進行的長度補償的示意圖。
圖4為本發明一實施例中、一系統控制器與一平均八對十四調變長度量測裝置(average EFM length measurement device)的組合的示意圖。
圖5為本發明一實施例中、一系統控制器與一平均八對十四調變長度偏差量測裝置(average EFM length deviation measurement device)的組合的示意圖。
符號說明100八對十四調變長度量測裝置110八對十四調變長度檢測器120，232 存儲器200平均八對十四調變長度量測裝置220，320 計算模塊220C 計算器222長度分類器224緩衝器226型樣依附分類器234平均單元300平均八對十四調變長度偏差量測裝置326長度偏差計算器1000 系統控制器CLK參考時脈EFMI 剖析信號L，P 長度(平面長度/凹洞長度)(LnT，PmT)，(PnT，LmT) 計算結果(平均長度集)
(ΔLnT，ΔPmT)，(ΔPnT，ΔLmT)計算結果(平均長度偏差集)223，225，227，229，233，235，327，329，333，335 信號Ef，Er凹洞之前/後位置誤差dFi，k，dRj，k寫入策略參數的補償量910 方法910S，910E，912～924 步驟具體實施方式
本發明提供用來調整(tune)一光學儲存裝置的多個寫入策略參數(writestrategy parameter)的系統。依據第一觀點，這些系統可以是用來調整寫入策略參數的電路，其中該電路是置於該光學儲存裝置中。依據第二觀點，這些系統可以實質上(substantially)為該光學儲存裝置本身。依據第三觀點，這些系統亦可包含一計算機(computer)與一光學儲存裝置的組合。於此僅概略地舉例，以解釋本發明於不同的實施例中可能採用各種不同的觀點。
請參考圖1，圖1為本發明第一實施例的示意圖，其中包括一系統控制器1000與一個八對十四調變長度量測裝置(eight-to-fourteen modulationlength measurement device，EFM length measurement device)100。八對十四調變長度量測裝置100通常是耦接至一光學儲存裝置中的一剖析器(slicer，未顯示於圖1)。該剖析器可依據一重建信號(reproduced signal)，例如射頻信號(radio frequency signal，RF signal)，來產生一剖析信號(sliced signal)，其中該射頻信號載有被寫在一光學儲存媒體上的資料。於本實施例中，該剖析信號為圖1所示的EFMI。該剖析器的運作與原理為熟悉此項技藝者所知悉，故不在此重複贅述。為了簡明起見，本實施例採用一可記錄式光碟片(CD-Recordable disc，CD-R disc)作為該光學儲存媒體、以及採用一光碟機(CD drive)作為該光學儲存裝置來進行說明。熟悉此項技藝者應可理解，其它種類的光學儲存媒體，例如數字多用途光碟片(DigitalVersatile Disc，DVD)中不論是DVD-R、DVD+R...等規格的數字多用途光碟片，以及對應的光學儲存裝置，例如數字多用途光碟機(DVD drive)，也可應用本發明的方法與系統達到自動調整寫入策略參數的目的。
如圖1所示，八對十四調變長度量測裝置100包含有一個八對十四調變長度檢測器(EFM length detector)110與一存儲器120。八對十四調變長度檢測器110可依據剖析信號EFMI來檢測多個長度，其中剖析信號EFMI載有被寫(記錄)在該光學儲存媒體上的資料。典型的實施方式中，八對十四調變長度檢測器110檢測剖析信號EFMI的上升邊緣(rising edge)與下降邊緣(falling edge)之間的間距(interval)及/或剖析信號EFMI的下降邊緣與上升邊緣之間的間距，來作為該多個長度。每一間距對應於該光學儲存媒體上的一凹洞(pit)或一平面(land)。於是，上述的長度可以是對應於凹洞的凹洞長度(pit length)P以及對應於平面的平面長度(land length)L。依據本實施例，剖析信號EFMI具有八對十四調變資料(EFM information，EFMI)。每一個凹洞長度P代表沿著該光學儲存媒體上溝槽(groove)的一凹洞所記錄的資料，而每一個平面長度L代表沿著該溝槽的一平面所記錄的資料。請留意，於本發明的另一實施例中，該剖析信號可載有加強型八對十四調變(EFM plus，EFM+)信息(例如應用DVD-R規格的實施例)或其它兼容於八對十四調變/加強型八對十四調變的變化規格的信息。
依據該第一實施例，於該可記錄式光碟片的一理想狀況下，得自剖析信號EFMI的這些凹洞長度與平面長度均為時脈周期T的倍數，且這些凹洞長度與平面長度的分布範圍為3T至11T。也就是說，凹洞的長度P或平面的長度L可為3T、4T、...、或11T。所以，甚為合理的是，參考時脈CLK(其是用來量測這些凹洞長度與這些平面長度的參考信號)具有小於或等於T的周期。依據本實施例，參考時脈CLK的周期為T/10。於一實際狀況下，這些長度L與P通常並非T的確切倍數，即通常不是T的整數倍。存儲器120儲存八對十四調變長度檢測器110所檢測的長度L與P，並按照系統控制器1000的要求來輸出這些長度L與P。然後一計算機或該光學儲存裝置中執行韌體碼(firmware code)的微處理單元(micro-processing unit，MPU)可依據輸出自存儲器120的長度L與P來進行計算，以產生多個計算結果，這些計算結果是用來調整該光學儲存裝置的多個寫入策略參數，其中該計算機可耦接至該光學儲存裝置並執行一應用程式(application program)。
需要留意的是，不論是計算機或是微處理單元被使用於計算，該多個寫入策略參數皆可依據這些測量到的長度而被自動地調整，這是因為本發明並不需要一些額外的特定裝置(例如上述的示波器)。另外，依據本發明，若並不是使用計算機來進行計算，則寫入策略參數可於系統或晶片上被自動地調整。
於執行該應用程式的計算機進行上述的計算以產生計算結果的實施選擇中，顯然的是，執行該應用程式的計算機可將計算結果送回該光學儲存裝置。所以，不論是執行該應用程式的計算機或是執行該韌體碼的微處理單元，均可依據計算結果來調整該多個寫入策略參數。另一方面，於執行該韌體碼的微處理單元進行上述的計算以產生計算結果的實施選擇中，該微處理單元可簡單地依據微處理單元本身所產生的計算結果來調整寫入策略參數。藉由依據得自這些長度L與P的計算結果來調整寫入策略參數，對應於被寫到該光學儲存媒體上的最新資料的凹洞長度或平面長度可達到T的倍數，其中上述的最新資料是藉由使用寫入策略參數的最新值而被寫到該光學儲存媒體上的。請留意，只要不影響本發明的實施，依據該第一實施例的一變化例，系統控制器1000可以是執行該韌體碼的微處理單元。
圖2為依據本發明一實施例、用來調整一光學儲存裝置的多個寫入策略參數的方法910的流程圖。方法910可透過圖1所示的系統來實施。依據微處理單元進行上述的計算的實施選擇，該第一實施例可說明如下於步驟912中，在該光學儲存裝置中的微處理單元(未顯示)的控制下，該光學儲存裝置先使用一特定轉速的寫入策略參數的初始值，將資料寫到該光學儲存媒體上。
於步驟914中，該光學儲存裝置讀取被寫到該光學儲存媒體上的最新資料以產生剖析信號EFMI。
於步驟916中，八對十四調變長度量測裝置100的八對十四調變長度檢測器110依據剖析信號EFMI來檢測多個凹洞的長度P與多個平面的長度L。
於步驟918中，執行該韌體碼的微處理單元依據步驟916中所檢測的長度P與長度L以及多個資料集類型(LnT，PmT)與(PnT，LmT)來進行計算，以產生分別對應於各個資料集類型(LnT，PmT)與(PnT，LmT)的計算結果，其中於本實施例中，n＝3、4、...、或11且m＝3、4、...、或11。每一個資料集類型(LnT，PmT)，例如當n＝n0且m＝m0，資料集類型為(Ln0*T，Pm0*T)，是用來將對應一平面與緊隨其後的相鄰的凹洞的資料集(L，P)予以分類(classify)，例如資料集類型(Ln0*T，Pm0*T)對應到目標平面長度為n0*T的平面，與緊隨其後的目標凹洞長度為m0*T的凹洞。於本實施例中，資料集(L，P)亦可稱為長度集(length set)。相仿地，每一個資料集類型(PnT，LnT)，例如當n＝n0且m＝m0，資料集類型為(Pn0*T，Lm0*T)，是用來將對應一凹洞與緊隨其後的相鄰的平面的資料集(P，L)予以分類(classify)，例如資料集類型(Pn0*T，Lm0*T)對應到目標凹洞長度為n0*T的凹洞，與緊隨其後的目標平面長度為m0*T的平面。於本實施例中，資料集(P，L)亦可稱為長度集(length set)。需要留意的是，每一個資料集類型(LnT，PmT)，例如資料集類型(Ln0*T，Pn0*T)，對應於一特定目標平面長度n0*T與一特定目標凹洞長度m0*T的組合(n0*T，m0*T)，且每一個資料集類型(PnT，LmT)，例如資料集類型(Pn0*T，Lm0*T)，對應於一特定目標凹洞長度n0*T與一特定目標平面長度m0*T。因此資料集類型(LnT，PmT)與(PnT，LmT)的總數在此實施例中可由下列式子得到9*9*2＝162。
若下列方程式成立
(n0-0.5)*T≤L≤(n0+0.5)*T，且(m0-0.5)*T≤P≤(m0+0.5)*T，則微處理單元可將符合此方程式的數據集(L，P)分類為資料集類型(Ln0*T，Pm0*T)。相仿地，若下列方程式成立(n0-0.5)*T≤P≤(n0+0.5)*T，且(m0-0.5)*T≤L≤(m0+0.5)*T，則微處理單元可將符合此方程式的數據集(P，L)分類為資料集類型(Pn0*T，Lm0*T)。
於取得對應於每一種資料集類型(LnT，PmT)的資料集(L，P)數量、以及對應於每一種資料集類型(PnT，LmT)的資料集(P，L)數量之後，微處理單元計算分別對應於各個資料集類型(LnT，PmT)的平均長度集(average length set)(LnT，PmT)，並計算分別對應於各個資料集類型(PnT，LmT)的平均長度集(PnT，LmT)，其中平均長度LnT與PmT分別代表屬於此資料集類型(LnT，PmT)的長度L與P的平均值，同樣地，平均長度PnT與LmT分別代表屬於此資料集類型(PnT，LmT)的長度P與L的平均值。例如平均長度Ln0*T與Pm0*T分別代表被分類至資料集類型(Ln0*T，Pm0*T)的長度L與P各自的平均值，而平均長度Pn0*T與Lm0*T分別代表被分類至資料集類型(Pn0*T，Lm0*T)的長度P與L各自的平均值。
於計算平均長度集(LnT，PmT)之後，分別對應於各個資料集類型(LnT，PmT)的計算結果(ΔLnT，ΔPmT)可由下列方程式取得ΔLnT＝LnT-nT；以及ΔPmT＝PmT-mT。
相仿地，於計算平均長度集(PnT，LmT)之後，分別對應於各個資料集類型(PnT，LmT)的計算結果(ΔPnT，ΔLmT)可由下列方程式取得ΔPnT＝PnT-nT；以及ΔLmT＝LmT-mT。
於步驟920中，執行該韌體碼的微處理單元決定是否需要調整寫入策略參數。若多個計算結果(ΔLnT，ΔPmT)與(ΔPnT，ΔLmT)的長度偏差值ΔLnT、ΔPmT、ΔPnT、與ΔLmT中的任一者大於一特定門檻值，則該微處理單元決定需要調整寫入策略參數，步驟922將被執行；否則，進入步驟910E。針對步驟920的初次執行，若寫入策略參數的初始值確定不夠精確，則微處理單元可決定忽略步驟920的檢查、直接進入步驟922。依據不同的實施選擇，步驟920與922中所描述的寫入策略參數可為一個寫入策略參數或多個寫入策略參數，這是由於有可能一次只需要調整一個寫入策略參數。類似對應於此等單數與多數的不同實施選擇的重複說明將不再贅述。
若執行該韌體碼的微處理單元決定進入步驟922，則該微處理單元分別依據計算結果(ΔLnT，ΔPmT)與(ΔPnT，ΔLmT)來調整寫入策略參數。依據本實施例，寫入策略參數包含有Fi，k與Rj，k，分別用來控制凹洞與平面的開始位置，其中組合索引(combination index)I的值可為0、1、...、或80，分別對應81種資料集類型(LnT，PmT)，而組合索引j的值也可為0、1、...、或80，分別對應81種資料集類型(PnT，LmT)，且k為對應於寫入策略調整(即調整寫入策略參數)的次數的循環索引(loop index)。於本實施例中，Fi，0與Rj，0分別代表對應於組合索引i與j的寫入策略參數的初始值，而Fi，1與Rj，1分別代表對應於組合索引i與j的寫入策略參數於步驟922中初次被調整後的最新值。因此，Fi，k與Rj，k分別代表對應於組合索引i與j的寫入策略參數於第k次執行步驟922後的最新值。
請注意，依據本發明應用於上述的數字多用途光碟片(例如DVD-R規格或DVD+R規格的數字多用途光碟片)的另一實施例，資料集類型(LnT，PmT)與(PnT，LmT)的總數量可如下列計算來取得10*10*2＝200；這是由於對DVD-R規格或DVD+R規格的數字多用途光碟片而言，n＝3、4、...、11、或14，且m＝3、4、...、11、或14。另外，只要不影響本發明的實施，依據本發明的另一實施例，上述的平均長度集並非全部都需要被計算。若全部組合(nT，mT)當中的某(些)特定組合，與資料集類型(LnT，PmT)與(PnT，LmT)有關的效能為可接受的，則不需要調整全部的寫入策略參數。
圖3為圖2所示的方法910中所進行的長度補償的示意圖，在此是以目標凹洞長度為4T的一凹洞以及緊隨該凹洞的目標平面長度為4T的一相鄰平面為例來說明。圖3所示的Ef與Er分別代表該凹洞的前位置誤差(forelocation error)與後位置誤差(rear location error)，圖3所示的Er的值亦代表緊隨該凹洞的相鄰平面的前位置誤差。如圖3所示，補償量dFi，k與dRj，k是分別用來調整寫入策略參數Fi，k與Rj，k，其中補償量dFi，k與dRj，k可自下列方程式取得。
dFi，k＝Gi，k，L*ΔLnT-Gi，k，P*ΔPmT；以及dRj，k＝Hj，k，P*ΔPnT-Hj，k，L*ΔLmT。
藉由分別將計算結果ΔLnT、ΔPmT、ΔPnT、與ΔLmT乘以加權係數(weightedfactor)Gi，k，L、Gi，k，P、Hj，k，P、與Hj，k，L，該微處理單元能以加權係數Gi，k，L、Gi，k，P、Hj，k，P、與Hj，k，L調整計算結果ΔLnT、ΔPmT、ΔPnT、與ΔLmT的比重，以產生調整結果(Gi，k，L*ΔLnT)、(Gi，k，P*ΔPmT)、(Hj，k，P*ΔPnT)、與(Hj，k，L*ΔLmT)，用來調整寫入策略參數Fi，k與Rj，k，如上述的方程式中所示。然後微處理單元可依據下列方程式來調整寫入策略參數Fi，k與Rj，kFi，k+1＝Fi，k+dFi，kRj，k+i＝Rj，k+dRj，k針對目前可應用於該光學儲存媒體的材料，為了得到寫入策略調整的較佳效能，加權係數Gi，k，L、Gi，k，P、Hj，k，P、與Hj，k，L可被設為小於1的值，且可被設為相應於k的增加而逐次減少的值。然而，此並非本發明的限制。另外，於該第一實施例的一特例中，加權係數Gi，k，L與Hj，k，P可被設為零，或是加權係數Gi，k，P與Hj，k，L可被設為零，以節省寫入策略調整的計算量，並節省寫入策略調整過程中所使用的存儲器資源(例如存儲器120或其它實施例中的其它存儲器)的儲存容量需求。
於步驟924中，於執行該韌體碼的微處理單元的控制下，該光學儲存裝置藉由使用寫入策略參數Fi，k與Rj，k於調整後(即執行步驟922之後)的最新的值，將資料寫到光學儲存媒體上。於執行步驟924之後，進入步驟914。於是，方法910的工作流程就持續地進行，直到寫入策略參數被調整至符合步驟920中所設定的條件，例如藉由比對特定門檻值以達到一預定精確度為止。
於獲悉關於方法910的教導之後，熟悉此項技藝者應可理解，依據本發明的另一實施例，圖2的步驟中至少一部分，能透過各種藉由硬體、軟體、或硬體與軟體...等組合所實現的裝置來執行。例如利用計算機進行上述的計算，步驟918、920、及/或922可被執行該應用程式的計算機所實現。依據此實施選擇，所檢測出的長度L與P可被送至計算機，將這些長度分類成長度集(L，P)與(P，L)，並計算平均長度偏差(average length deviation)，例如上述的計算結果(ΔLnT，ΔPmT)與(ΔPnT，ΔLmT)。依據本發明的一實施選擇，執行該應用程式的計算機可決定是否需要調整寫入策略參數。依據各種實施選擇，若需要調整寫入策略參數，則執行該應用程式的計算機或執行該韌體碼的微處理單元可計算寫入策略參數Fi，k與Rj，k的最新值。計算機計算出寫入策略參數Fi，k與Rj，k的最新值後，可以選擇將寫入策略參數Fi，k與Rj，k的最新值、或是補償量dFi，k與dRj，k送回該光學儲存裝置。依據各種實施選擇，執行該應用程式的計算機或執行該韌體碼的微處理單元可調整寫入策略參數Fi，k與Rj，k，所以執行該韌體碼的微處理單元可藉由使用寫入策略參數Fi，k與Rj，k的最新值來將資料寫到該光學儲存媒體上。於執行步驟924之後，步驟914至920將被執行以檢查是否需要進一步的寫入策略調整。
圖4為本發明第二實施例中、與一平均八對十四調變長度量測裝置(average EFM length measurement device)200互相耦接的系統控制器1000的示意圖。除了圖1所示的八對十四調變長度檢測器110之外，該第二實施例的平均八對十四調變長度量測裝置200另包含有一計算模塊220，用來執行步驟918的一部分，以產生多個平均長度集(LnT，PmT)與(PnT，LmT)來作為平均八對十四調變長度量測裝置200的計算結果，然後執行另一韌體碼的微處理單元可完成步驟918中所揭露的計算的其餘部分。
如圖4所示，計算模塊220包含有一長度分類器(length classifier)222、一緩衝器224、一型樣依附分類器(pattern dependency classifier)226、與一計算器220C，而計算器220C則包含有一存儲器232與一平均單元(average unit)234。依據該第二實施例，長度分類器222可將每一個凹洞長度P分類為多個目標凹洞長度中之一(即3T、4T、...、或11T)。相仿地，長度分類器222亦可將每一個平面長度L分類為多個目標平面長度中之一(即3T、4T、...、或11T)。依據本實施例，長度分類器222將一長度L或P，以及對應的目標長度(即長度L或P應被分類的目標長度)，一併編碼以產生一編碼資料223，其中編碼資料223具有長度(長度L或P)以及對應的目標長度兩者的信息緩衝器224能緩衝處理(buffering)編碼數據223並輸出緩衝數據225。在此，若編碼資料223對應於一目前長度(current length)，則緩衝資料225對應於一先前長度(previous length)。於是，緩衝器224緩衝處理該先前長度，以供(於型樣依附分類器226中)形成(forming)具有一先前長度與一目前長度的資料集(L，P)或(P，L)。
型樣依附分類器226藉由將每一個資料集(L，P)儲存進存儲器232當中、分別對應各種資料集類型(LnT，PmT)的存儲器區域中的一個區塊，將這些檢測到的資料集(L，P)分類成資料集類型(LnT，PmT)。相仿地，型樣依附分類器226藉由將每一個資料集(P，L)儲存進存儲器232當中、分別對應各種資料集類型(PnT，LmT)的存儲器區域中的一個區塊，將這些檢測到的資料集(P，L)分類成資料集類型(PnT，LmT)。
針對每一個資料集類型(LnT，PmT)，平均單元234可將對應的平面長度L平均(averaging)以產生對應該特定資料集類型的平均長度LnT，並可將對應的凹洞長度P平均以產生對應該特定資料集類型的平均長度PmT。相仿地，針對每一個資料集類型(PnT，LmT)，平均單元234可將對應的凹洞長度P平均以產生對應該特定資料集類型的平均長度PnT，並可將對應的平面長度L平均以產生對應該特定資料集類型的平均長度LmT。
依據本實施例，平均單元234是藉由使用一移動平均單元(movingaverage unit)來實施。另外，針對每一個資料集類型(LnT，PmT)，例如符合n＝n0且m＝m0的一資料集類型(Ln0*T，Pm0*T)，平均單元234將對應n0的平面長度L平均，並將對應m0的凹洞長度P平均，以產生對應資料集類型(Ln0*T，Pm0*T)的一平均長度集(Ln0*T，Pm0*T)。因此計算器220C可利用這些對應到資料集類型(Ln0*T，Pm0*T)的資料集(L，P)，產生資料集類型(Ln0*T，Pm0*T)的計算結果(Ln0*T，Pm0*T)。廣義而言，計算器220C會分別針對各種資料集類型(LnT，PmT)來產生計算結果(LnT，PmT)。
相仿地，針對每一個資料集類型(PnT，LmT)，例如符合n＝n0且m＝m0的一資料集類型(Pn0*T，Lm0*T)，平均單元234將對應n0的凹洞長度P平均、並將對應m0的平面長度L平均，以產生對應資料集類型(Pn0*T，Lm0*T)的一平均長度集(Pn0*T，Lm0*T)。因此計算器220C可利用對應到資料集類型(Pn0*T，Lm0*T)的資料集(P，L)，產生資料集類型(Pn0*T，Lm0*T)的計算結果(Pn0*T，Lm0*T)。廣義而言，計算器220C會分別針對各種資料集類型(PnT，LmT)來產生計算結果(PnT，LmT)。
相似於第一實施例，於第二實施例的一特例中，加權係數Gi，k，L與Hj，k，P可被設為零，或是加權係數Gi，k，P與Hj，k，L可被設為零，以節省寫入策略調整的計算量，並節省寫入策略調整過程中所使用的存儲器資源(例如存儲器232)的儲存容量需求。於此特例中，分別針對各種資料集類型(LnT，PmT)，計算器220C可產生多個平均長度LnT或多個平均長度PmT來作為計算結果(即計算模塊220的輸出)。相仿地，分別針對各種資料集類型(PnT，LmT)，計算器220C可產生多個平均長度PnT或多個平均長度LmT來作為計算結果。
圖5為本發明一第三實施例中、與一平均八對十四調變長度偏差量測裝置(average EFM length deviation measurement device)300互相耦接的系統控制器1000的示意圖。除了圖1所示的八對十四調變長度檢測器110之外，第三實施例的平均八對十四調變長度偏差量測裝置300另包含有一計算模塊320，用來執行步驟918的一部分，以產生多個平均長度偏差集(ΔLnT，ΔPmT)與(ΔPnT，ΔLmT)來作為平均八對十四調變長度量測裝置300的計算結果。
除了圖4所示的長度分類器222、緩衝器224、型樣依附分類器226、與計算器220C，圖5所示的計算模塊320另包含有一長度偏差計算器(lengthdeviation calculator)326。依據第三實施例，型樣依附分類器226另將多個資料集(L，P)與(P，L)的這些長度L與P輸出至長度偏差計算器326。如前面所述，長度分類器222將一長度L或P，以及對應的目標長度(即長度L或P應被分類的目標長度)，一併編碼以產生編碼資料223，其中編碼資料223具有長度(長度L或P)與所對應的目標長度兩者的信息。所以，這樣的信息可以在該計算模塊(例如第二實施例的計算模塊220與第三實施例的計算模塊320)中的兩組件之間傳輸。
於是，當長度偏差計算器326接收到藉由編碼資料229所傳輸的多個資料集(L，P)的長度L與P時，就可以簡單地將對應於各個資料集類型(LnT，PmT)的資料集(L，P)的長度L與P分別取代為對應的長度偏差值ΔLnT與ΔPmT，其中長度偏差計算器326依據下列方程式來計算多個長度偏差值ΔLnT與ΔPmTΔLnT＝L-nTΔPmT＝P-mT相仿地，當長度偏差計算器326接收到藉由編碼資料229所傳輸的多個資料集(P，L)的長度P與L時，就可以簡單地將對應於各個資料集類型(PnT，LmT)的資料集(P，L)的長度P與L分別取代為對應的長度偏差值ΔPnT與ΔLmT，其中長度偏差計算器326依據下列方程式來計算多個長度偏差值ΔPnT與ΔLmTΔPnT＝P-nTΔLmT＝L-mT依據圖5所示的電路耦接方式的結果，針對每一個資料集類型(LnT，PmT)，計算器220C可簡單地分別計算長度偏差值ΔLnT的平均值ΔLnT，而不須計算長度平均值LnT，並可簡單地分別計算長度偏差值ΔPmT的平均值ΔPmT，而不須計算長度平均值PmT。相仿地，針對每一個資料集類型(PnT，LmT)，計算器220C可簡單地分別計算長度偏差值ΔPnT的平均值ΔPnT，而不須計算長度平均值PnT，並可簡單地分別計算長度偏差值ΔLmT的平均值ΔLmT，而不須計算長度平均值LmT。
相似於第一實施例，於第三實施例的一特例中，加權係數Gi，k，L與Hj，k，P可被設為零，或是加權係數Gi，k，P與Hj，k，L可被設為零，以節省寫入策略調整的計算量，並節省寫入策略調整過程中所使用的存儲器資源(例如存儲器232)的儲存容量需求。於此特例中，分別針對多個資料集類型(LnT，PmT)，計算器220C可產生多個平均值ΔLnT或多個平均值ΔPmT來作為計算結果(即計算模塊320的輸出)。相仿地，分別針對多個資料集類型(PnT，LmT)，計算器220C可產生多個平均值ΔPnT或多個平均值ΔLmT來作為計算結果。
於第二實施例的一變化例中，耦接至平均八對十四調變長度量測裝置200的一長度偏差計算器是被用於執行步驟918的一部分，以藉由如前面所揭露的相似計算來產生平均長度偏差集(ΔLnT，ΔPmT)與(ΔPnT，ΔLmT)。本變化例的長度偏差計算器依據接收自平均八對十四調變長度量測裝置200的計算結果(LnT，PmT)與(PnT，LmT)來產生平均長度偏差集(ΔLnT，ΔPmT)與(ΔPnT，ΔLmT)，並輸出平均長度偏差集(ΔLnT，ΔPmT)與(ΔPnT，ΔLmT)。所以，如前面所述，執行該應用程式的計算機或是執行該韌體碼的微處理單元可使用輸出自本變化例的長度偏差計算器的平均長度偏差集(ΔLnT，ΔPmT)與(ΔPnT，ΔLmT)，以繼續執行後續某(些)步驟，例如步驟920及/或922。
由於對一群資料進行平均運算所得到的平均結果是與對同一群資料進行一總和(summing)運算所得到的總和結果成正比，依據本發明的另一實施例，平均單元234可被代換為一總和單元。因此，平均單元234的平均運算也可被代換為總和單元的總和運算。於獲悉關於本發明的教導之後，熟悉此項技藝者應可理解，此等計算的各種變化可被應用於本發明的其它實施例。
另外，雖然於上述的各實施例中，每一資料集類型對應於兩個長度的組合(例如一特定目標凹洞長度與一特定目標平面長度的組合、或一特定目標平面長度與一特定目標凹洞長度的組合)，此並非本發明的限制。於本發明的其它實施例中，這些資料集類型中的一資料集類型或每一資料集類型可對應於至少一特定目標凹洞長度與多個特定目標平面長度的組合、或至少一特定目標平面長度與多個特定目標凹洞長度的組合、或多個特定目標平面長度與多個特定目標凹洞長度的組合。例如每一資料集類型可應用如(P1，L，P2)、(L1，P，L2)...等三個長度的組合。於是，寫入策略參數可進一步依據更多相鄰凹洞或平面而被調整。
需要留意的是，本發明可藉由使用具有多個有區別的(distinct)組件的硬體或藉由使用適當地設計妥程序的計算機來實施。於申請專利範圍中、詳細說明了多個組件的系統項當中，有些組件可藉由使用同一硬體、韌體、或軟體裝置來實現。
以上所述僅為本發明的較佳實施例，凡依本發明申請專利範圍所做的均等變化與修飾，皆應屬本發明的涵蓋範圍。
權利要求
1.一種用來調整一光學儲存裝置的多個寫入策略參數的方法，其包含有檢測多個長度，每一長度對應於該光學儲存裝置所存取的一光學儲存媒體上的一凹洞或一平面；依據該多個長度與多個資料集類型進行計算，以產生分別對應於該多個資料集類型的多個計算結果，每一資料集類型對應於至少一特定目標凹洞長度與一特定目標平面長度的組合、或至少一特定目標平面長度與一特定目標凹洞長度的組合，其中該組合對應於一特定寫入策略參數；以及使用該多個計算結果調整分別對應於該多個資料集類型的寫入策略參數。
2.如權利要求1所述的方法，其中檢測該多個長度的步驟另包含有依據存取該光學儲存媒體的該光學儲存裝置所產生的一重建信號來檢測該多個長度。
3.如權利要求2所述的方法，其中檢測該多個長度的步驟另包含有剖析該重建信號以產生一剖析信號；以及檢測該剖析信號的多個上升邊緣與多個下降邊緣之間的多個間距及/或該剖析信號的多個下降邊緣與多個上升邊緣之間的多個間距，來作為該多個長度，其中每一間距對應於一凹洞或一平面。
4.如權利要求1所述的方法，其另包含有於系統或晶片上自動地調整該多個寫入策略參數。
5.如權利要求1所述的方法，其中依據該多個長度與該多個資料集類型進行計算的步驟另包含有將多個資料集分類進該多個資料集類型，每一資料集包含分別對應於一凹洞與一相鄰的平面的長度或分別對應於一平面與一相鄰的凹洞的長度；以及使用對應於一資料集類型的多個資料集，來產生該資料集類型的計算結果。
6.如權利要求5所述的方法，其中依據該多個長度與該多個資料集類型進行計算的步驟另包含有將該多個長度中的一長度辨識為一目標凹洞長度或一目標平面長度，以供進一步將該多個資料集分類進該多個資料集類型。
7.如權利要求5所述的方法，其中依據該多個長度與該多個資料集類型進行計算的步驟另包含有緩衝處理一先前長度，以供形成具有該先前長度與一目前長度的資料集。
8.如權利要求1所述的方法，其中依據該多個長度與該多個資料集類型進行計算的步驟另包含有針對該多個資料集類型中的每一資料集類型，進行多個長度的平均運算以產生對應該資料集類型的一計算結果，其中針對該多個資料集類型中之一所進行的平均運算中所使用的長度對應於多個凹洞，或者針對該多個資料集類型中之一所進行的平均運算中所使用的長度對應於多個平面，或者針對該多個資料集類型中之一所進行的平均運算中所使用的長度包含有對應於多個平面的長度與對應於多個凹洞的長度。
9.如權利要求1所述的方法，其中依據該多個長度與該多個資料集類型進行計算的步驟另包含有針對該多個資料集類型中的每一資料集類型，進行多個長度的總和運算以產生對應該資料集類型的一計算結果，其中針對該多個資料集類型中之一所進行的總和運算中所使用的長度對應於多個凹洞，或者針對該多個資料集類型中之一所進行的總和運算中所使用的長度對應於多個平面，或者針對該多個資料集類型中之一所進行的總和運算中所使用的長度包含有對應於多個平面的長度與對應於多個凹洞的長度。
10.如權利要求1所述的方法，其中依據該多個長度與該多個資料集類型進行計算的步驟另包含有計算多個差值，其包含有多個第一差值或多個第二差值，其中每一差值為對應於一凹洞的一長度與一目標凹洞長度之間的差值，或每一差值為對應於一平面的一長度與一目標平面長度之間的差值；以及針對該多個資料集類型中的一資料集類型，進行多個第一差值的平均運算及/或進行多個第二差值的平均運算，以產生對應該資料集類型的一計算結果。
11.如權利要求1所述的方法，其中依據該多個長度與該多個資料集類型進行計算的步驟另包含有計算多個差值，其包含有多個第一差值或多個第二差值，其中每一差值為對應於一凹洞的一長度與一目標凹洞長度之間的差值，或每一差值為對應於一平面的一長度與一目標平面長度之間的差值；以及針對該多個資料集類型中的一資料集類型，進行多個第一差值的總和運算及/或進行多個第二差值的總和運算，以產生對應該資料集類型的一計算結果。
12.如權利要求1所述的方法，其中於依據該多個長度與該多個資料集類型進行計算的步驟中，每一資料集類型是對應於至少一特定目標凹洞長度與多個特定目標平面長度的組合、或至少一特定目標平面長度與多個特定目標凹洞長度的組合、或多個特定目標平面長度與多個特定目標凹洞長度的組合。
13.如權利要求1所述的方法，其中使用該多個計算結果的步驟另包含有以至少一加權係數來調整該多個計算結果，以產生分別對應於該多個計算結果的多個調整結果；以及使用該多個調整結果，以調整對應於每一資料集類型的寫入策略參數。
14.一種用來調整一光學儲存裝置的寫入策略參數的系統，該系統包含有一檢測器，用來檢測多個長度，每一長度對應於該光學儲存裝置所存取的一光學儲存媒體上的一凹洞或一平面；一計算模塊，耦接至該檢測器，用來依據該多個長度與多個資料集類型進行計算，以產生分別對應於該多個資料集類型的多個計算結果，每一資料集類型是對應於至少一特定目標凹洞長度與一特定目標平面長度的組合、或至少一特定目標平面長度與一特定目標凹洞長度的組合，其中該組合是對應於一特定寫入策略參數；以及一控制器，耦接至該計算模塊，該控制器使用該多個計算結果調整分別對應於該多個資料集類型的寫入策略參數。
15.如權利要求14所述的系統，其中該檢測器依據存取該光學儲存媒體的該光學儲存裝置所產生的一重建信號來檢測該多個長度。
16.如權利要求15所述的系統，其另包含有一剖析器，用來剖析該重建信號以產生一剖析信號；其中該檢測器檢測該剖析信號的多個上升邊緣與多個下降邊緣之間的多個間距及/或該剖析信號的多個下降邊緣與多個上升邊緣之間的多個間距，來作為該多個長度，以及每一間距對應於一凹洞或一平面。
17.如權利要求14所述的系統，其中該多個寫入策略參數是於系統或晶片上被自動地調整。
18.如權利要求14所述的系統，其中該計算模塊另包含有一型樣依附分類器，用來將多個資料集分類進該多個資料集類型，每一資料集包含分別對應於一凹洞與一相鄰的平面的長度或分別對應於一平面與一相鄰的凹洞的長度；以及一計算器，耦接至該型樣依附分類器，用來使用對應於一資料集類型的多個資料集，來產生該資料集類型的計算結果。
19.如權利要求18所述的系統，其中該計算模塊另包含有一長度分類器，用來將該多個長度中的一長度辨識為一目標凹洞長度或一目標平面長度，以供進一步將該多個資料集分類進該多個資料集類型。
20.如權利要求18所述的系統，其中該計算模塊另包含有一緩衝器，用來緩衝處理一先前長度，以供形成具有該先前長度與一目前長度的資料集。
21.如權利要求14所述的系統，其中該計算模塊另包含有一平均單元，針對該多個資料集類型中的每一資料集類型，該平均單元進行多個長度的平均運算以產生對應該資料集類型的一計算結果，其中針對該多個資料集類型中之一所進行的平均運算中所使用的長度對應於多個凹洞，或者針對該多個資料集類型中之一所進行的平均運算中所使用的長度對應於多個平面，或者針對該多個資料集類型中之一所進行的平均運算中所使用的長度包含有對應於多個平面的長度與對應於多個凹洞的長度。
22.如權利要求14所述的系統，其中該計算模塊另包含有一總和單元，針對該多個資料集類型中的每一資料集類型，該總和單元進行多個長度的總和運算以產生對應該資料集類型的一計算結果，其中針對該多個資料集類型中之一所進行的總和運算中所使用的長度對應於多個凹洞，或者針對該多個資料集類型中之一所進行的總和運算中所使用的長度對應於多個平面，或者針對該多個資料集類型中之一所進行的總和運算中所使用的長度包含有對應於多個平面的長度與對應於多個凹洞的長度。
23.如權利要求14所述的系統，其中該計算模塊另包含有一長度偏差計算器，用來計算多個差值，其包含有多個第一差值或多個第二差值，其中每一差值為對應於一凹洞的一長度與一目標凹洞長度之間的差值，或每一差值為對應於一平面的一長度與一目標平面長度之間的差值；以及一平均單元，耦接至該長度偏差計算器，針對該多個資料集類型中的一資料集類型，該平均單元進行多個第一差值的平均運算及/或進行多個第二差值的平均運算，以產生對應該資料集類型的一計算結果。
24.如權利要求14所述的系統，其中該計算模塊另包含有一長度偏差計算器，用來計算多個差值，其包含有多個第一差值或多個第二差值，其中每一差值為對應於一凹洞的一長度與一目標凹洞長度之間的差值，或每一差值為對應於一平面的一長度與一目標平面長度之間的差值；以及一總和單元，耦接至該長度偏差計算器，針對該多個資料集類型中的一資料集類型，該總和單元進行多個第一差值的總和運算及/或進行多個第二差值的總和運算，以產生對應該資料集類型的一計算結果。
25.如權利要求14所述的系統，其中於該計算模塊所進行的計算中，每一資料集類型對應於至少一特定目標凹洞長度與多個特定目標平面長度的組合、或至少一特定目標平面長度與多個特定目標凹洞長度的組合、或多個特定目標平面長度與多個特定目標凹洞長度的組合。
26.如權利要求14所述的系統，其中於該控制器能以至少一加權係數來調整該多個計算結果以產生分別對應於該多個計算結果的多個調整結果，以及使用該多個調整結果以調整對應於每一資料集類型的寫入策略參數。
27.如權利要求14所述的系統，其中該系統實質上為該光學儲存裝置。
28.如權利要求14所述的系統，其中該系統為置於該光學儲存裝置中的一電路，或該系統為耦接至該光學儲存裝置的一電路。
全文摘要
本發明提供一種用來調整一光學儲存裝置的寫入策略參數的方法，其具有檢測多個長度，每一長度對應於該光學儲存裝置所存取的一光學儲存媒體上的一凹洞或一平面；依據該多個長度與多個資料集類型進行計算，以產生分別對應於各資料集類型的計算結果；以及使用該多個計算結果分別調整對應於該多個資料集類型的寫入策略參數。
文檔編號G11B20/18GK1822126SQ20061000298
公開日2006年8月23日 申請日期2006年1月26日 優先權日2005年2月17日
發明者許漢文, 遊志青, 朱志雄 申請人:聯發科技股份有限公司