抗幹擾鍍層厚度測量儀的製作方法
2023-12-11 06:08:27
專利名稱：抗幹擾鍍層厚度測量儀的製作方法
技術領域：
本實用新型涉及測量技術領域，具體涉及一種鍍層厚度測量技術。
背景技術：
在生活、生產中經常會用到鍍膜產品，鍍膜技術在工業生產中是材料技術中的重要技術領域。對於鍍膜產品質量鑑定的重要指標是鍍層的厚度，以及鍍層的均勻性。因為鍍層厚度往往極薄，給測量帶來了很大難度。現有的技術中往往是通過檢測鍍層的透光性，來測定鍍層的厚度。通過光對射檢測裝置的發光光源對鍍層的一側進行照射，將光對射檢測裝置的光敏器件設置在鍍層的另一側，從而獲得鍍層透光性數據，進而測定鍍層的厚度。現有的光對射檢測裝置尚存在精度低、易受外界光線幹擾等不足。
實用新型內容本實用新型的目的在於，提供一種抗幹擾鍍層厚度測量儀，以解決上述技術問題。本實用新型所解決的技術問題可以採用以下技術方案來實現抗幹擾鍍層厚度測量儀，包括一設備支架，至少一固定在所述設備支架上的光檢測裝置，所述光檢測裝置連接一微型處理器系統，其特徵在於，所述光檢測裝置設有一光源，所述光源採用紅外LED燈；所述光檢測裝置設有一光敏元件，所述光敏元件採用紅外光敏二極體；所述設備支架設有一條狀開口，所述紅外LED燈與所述紅外光敏二極體分別位於所述條狀開口兩側，呈對射關係。將需要檢測的鍍有鍍層的鍍膜薄膜穿過所述條狀開口，打開光檢測裝置，通過檢測投射光線的強度參數。光檢測裝置將所檢測到的數據傳送給微型處理器系統，經過數據分析最終獲得鍍層的厚度。所述紅外LED燈採用發光波段為860nnT960nm的紅外LED燈。所述紅外光敏二極體採用敏感波段為860nnT960nm的紅外光敏二極體。860nnT960nm的紅外光在自然界難以自然發出，因此可以有效減少外界光線對設備的幹擾。採用本技術，可以檢測0.1nm厚度的鍍層。所述光檢測裝置設有一振蕩信號發射模塊，所述振蕩信號發射模塊連接所述紅外LED燈；所述光檢測裝置設有一與所述振蕩信號發射模塊頻率對應的選頻模塊，所述選頻模塊連接所述紅外光敏二極體。通過為紅外LED燈加載振蕩頻率，使光線產生閃爍。可以更加有效的降低外界幹擾，並提供檢測精度。所述設備支架上設有至少5個所述光檢測裝置，至少5個所述光檢測裝置沿所述條狀開口排列。[0017]兩個所述光檢測裝置之間的距離小於10cm。以便於密集檢測鍍層面的各個位置的厚度。
圖1，為本實用新型的結構示意圖。
具體實施方式
為了使本實用新型實現的技術手段、創作特徵、達成目的與功效易於明白了解，下面結合具體圖示進一步闡述本實用新型。參照圖1，抗幹擾鍍層厚度測量儀，包括一設備支架1，至少一固定在設備支架I上的光檢測裝置2，光檢測裝置2連接一微型處理器系統，光檢測裝置2設有一光源，光源採用紅外LED燈。光檢測裝置2設有一光敏元件，光敏元件採用紅外光敏二極體。設備支架I設有一條狀開口 3，紅外LED燈與紅外光敏二極體分別位於條狀開口 3兩側，呈對射關係。一組光檢測裝置2中，裝有紅外LED燈的部分位於條狀開口 3 —側；裝有紅外光敏二極體的部分位於條狀開口 3另一側。將需要檢測的鍍有鍍層的鍍膜薄膜穿過條狀開口 3，打開光檢測裝置2，通過檢測投射光線的強度參數。光檢測裝置2將所檢測到的數據傳送給微型處理器系統，經過數據分析最終獲得鍍層的厚度。紅外LED燈採用發光波段為860nnT960nm的紅外LED燈。紅外光敏二極體採用敏感波段為860nnT960nm的紅外光敏二極體。860nnT960nm的紅外光在自然界難以自然發出，因此可以有效減少外界光線對設備的幹擾。光檢測裝置2設有一振蕩信號發射模塊，振蕩信號發射模塊連接紅外LED燈；光檢測裝置2設有一與振蕩信號發射模塊頻率對應的選頻模塊，選頻模塊連接紅外光敏二極體。通過為紅外LED燈加載振蕩頻率，使光線產生閃爍。可以更加有效的降低外界幹擾，並提供檢測精度。設備支架I上設有至少5個光檢測裝置2，至少5個光檢測裝置2沿條狀開口 3排列。兩個光檢測裝置2之間的距離小於10cm。以便於密集檢測鍍層面的各個位置的厚度。採用本技術，可以檢測O.1nm厚度的鍍層。以上顯示和描述了本實用新型的基本原理和主要特徵和本實用新型的優點。本行業的技術人員應該了解，本實用新型不受上述實施例的限制，上述實施例和說明書中描述的只是說明本實用新型的原理，在不脫離本實用新型精神和範圍的前提下，本實用新型還會有各種變化和改進，這些變化和改進都落入要求保護的本實用新型範圍內。本實用新型要求保護範圍由所附的權利要求書及其等效物界定。
權利要求1.抗幹擾鍍層厚度測量儀，包括一設備支架，至少一固定在所述設備支架上的光檢測裝置，所述光檢測裝置連接一微型處理器系統，其特徵在於， 所述光檢測裝置設有一光源，所述光源採用紅外LED燈； 所述光檢測裝置設有一光敏元件，所述光敏元件採用紅外光敏二極體； 所述設備支架設有一條狀開口，所述紅外LED燈與所述紅外光敏二極體分別位於所述條狀開口兩側，呈對射關係。
2.根據權利要求1所述的抗幹擾鍍層厚度測量儀，其特徵在於，所述紅外LED燈採用發光波段為860nnT960nm的紅外LED燈。
3.根據權利要求1所述的抗幹擾鍍層厚度測量儀，其特徵在於，所述紅外光敏二極體採用敏感波段為860nnT960nm的紅外光敏二極體。
4.根據權利要求1、2或3所述的抗幹擾鍍層厚度測量儀，其特徵在於，所述光檢測裝置設有一振蕩信號發射模塊，所述振蕩信號發射模塊連接所述紅外LED燈；所述光檢測裝置設有一與所述振蕩信號發射模塊頻率對應的選頻模塊，所述選頻模塊連接所述紅外光敏二極體。
5.根據權利要求4所述的抗幹擾鍍層厚度測量儀，其特徵在於，所述設備支架上設有至少5個所述光檢測裝置，至少5個所述光檢測裝置沿所述條狀開口排列。
6.根據權利要求4所述的抗幹擾鍍層厚度測量儀，其特徵在於，兩個所述光檢測裝置之間的距離小於10cm。
專利摘要本實用新型涉及測量技術領域，具體涉及一種鍍層厚度測量技術。抗幹擾鍍層厚度測量儀，包括一設備支架，至少一固定在設備支架上的光檢測裝置，光檢測裝置連接一微型處理器系統，光檢測裝置設有一光源，光源採用紅外LED燈；光檢測裝置設有一光敏元件，光敏元件採用紅外光敏二極體；設備支架設有一條狀開口，紅外LED燈與紅外光敏二極體分別位於條狀開口兩側，呈對射關係。將需要檢測的鍍有鍍層的鍍膜薄膜穿過條狀開口，打開光檢測裝置，通過檢測投射光線的強度參數。光檢測裝置將所檢測到的數據傳送給微型處理器系統，經過數據分析最終獲得鍍層的厚度。
文檔編號G01B11/06GK202903142SQ201220549900
公開日2013年4月24日 申請日期2012年10月25日 優先權日2012年10月25日
發明者陳顯東, 陳生販, 江裕捺, 陳生鎮, 陳發傑 申請人:上海宏昊企業發展有限公司