專利
用於磨片過程中測量晶圓厚度的測厚儀結構的製作方法
專利名稱：用於磨片過程中測量晶圓厚度的測厚儀結構的製作方法技術領域：本發明涉及半導體器件封裝的晶圓測量技術領域，具體為用於磨片過程中測量晶圓厚度的測厚儀結構。背景技術：現有的測厚儀如圖1，其測量晶圓厚度時，晶圓I的中心軸必須垂直於測量支座2，而千分尺3的測微螺杆4水平放置，且使得測量支座2的基準座5
在塑料底材結構上的碳納米管(cnt)聚合物基質的選擇性蝕刻的製作方法
專利名稱：在塑料底材結構上的碳納米管(cnt)聚合物基質的選擇性蝕刻的製作方法技術領域：本發明涉及選擇性結構化在柔性塑料底材結構(substructure)上的包含CNT (碳納米管)的聚合物基質的方法。所述方法還包括合適的蝕刻組合物，其允許在大規模生產中進行該方法。 背景技術：太陽能市場受歡迎度已
一種薄膜型太陽能電池的製作方法
專利名稱：一種薄膜型太陽能電池的製作方法技術領域：本實用新型涉及一種太陽能電池，特別涉及一種薄膜型太陽能電池。 背景技術：目前在太陽能電池製造業中，晶體矽和多晶體矽為基材的產品佔主導地位，其市場佔有率約為80%以上。由於矽基材價格昂貴，生產成本高，這成為太陽能電池發展推廣的重大障礙。現有技術中，已有
具有長條形孔的外延穿孔卷繞式太陽能電池及其製造方法
專利名稱：具有長條形孔的外延穿孔卷繞式太陽能電池及其製造方法技術領域：本發明涉及一種薄膜太陽能電池,特別涉及外延穿孔卷繞式(EpiWT)太陽能電池，該太陽能電池具有至少一個通孔，該至少一個通孔的輪廓的周長與由該通孔的輪廓所包圍的面積的比例大於具有相同面積的圓的周長與面積的比例。背景技術：外延穿孔卷繞