奧林巴斯SZX16的報價
2024-09-23 11:55:10 1
下面為北京大學地質與資源系的張老師做的一些性價比比較好的配置的推薦,還有關於體式顯微鏡的原理以及優劣的介紹。
一、左右兩光學系統光軸的偏差
原部標準JB1784一76關寸1這一個偏差引起的雙象是用限定山物鏡給出的像點在目鏡前焦平面L的位置來控制的。實踐證明這種方法還不能圓滿解決光軸偏差的控制問題。因為人們是通過整個顯微鏡系統(物鏡+目鏡)來觀察物體的,所以不能排除日鏡的影響,如目鏡光軸與目鏡外殼的機械軸線及光孔中心是否重合;卜}鏡視場光闌中心與目鏡管的機械軸線的重合性及門鏡管與日鏡外殼之間的配合間隙等都會破壞體視效應。
在理想情況下,顯微鏡光學系統的光軸與鏡管的機械軸線是重合的,但是通過轉像稜鏡以後,成像光束的方向(如果成像光束是由軸上點發出的也就代表了光軸方向)就有可能偏離正確的力方向,原部標準用標準的0.lmm十字分劃目鏡控制這個偏差當然是十分必要的,但是是不全面的。因為用標準目鏡進行裝調檢查時,雖然物方軸上點的像落在視場中心(習慣上把視場中心的點看做是軸上點),但實際上當人們用儀器時用的是一般的觀察目鏡,該像點就不一定處在目鏡視場的中心—目鏡前焦點上。試設想該像點在目鏡前焦平面上離光軸僅0.lmm,若所用的目鏡為10x,則自目鏡出射的光束軸線就會與日鏡系統的光軸相交成13『45「。如果山於轉像稜鏡及目鏡系統的綜合影響使光軸的偏).1,坦過一定限度以後,就有可能使同一物點在兩眼中的視網膜上的像不處在對應點土而產生雙像。
1988年頒布的體視顯微鏡國家標準GB10155規定用10x目鏡調節在零視度的條件下對左右兩光學系統光軸的方向進行控制是很大的改進。1989年國際標準化組織150/TC172/SC5/WGS文件中也是提出明左右兩光學系統之間光軸的差異來控制的,l(li且檢查條件也與我國國標相同。為了在生產中控制和檢驗左右兩光學系統光軸間的偏差,這裡提出如下的方法二(見圖5)。
原理根據顯微鏡系統的工作原理,由物鏡給出的物平面像位十目鏡前焦平面上,所以軸l二物點通過顯微鏡系統出射的光線是平行光,可以用望遠鏡來接收同時兩顯微鏡的光軸相交成一定的角度,所以用來接收光束的望遠鏡亦應相交成一定的角度。理論上兩望遠鏡光軸所組成的平面與兩顯微鏡光軸組成的平面處於同一個平面之內。
檢測儀器根據上述原理建立起來的檢測儀器應有調整裝置,即使望遠鏡能整組上下調節;兩望遠鏡光軸間的夾角應能調節且調節時光軸只能在同一平面內位移以保證精度;望遠鏡組兩光軸組成的平面應能繞水平軸作俯仰角度調節以適應不同體視顯微鏡目鏡筒傾斜度的需要並便十瞄雕目標;望遠鏡組還應能夠在兩光軸組成的平面內作左右擺動的調節。
為了得到準確的檢測結果,檢測儀器的調節還必須滿足以下條件:
1.山圖4的試驗我們知道當人眼兩瞳孔中心的聯線與顯微鏡兩齣瞳中心的連線不平行時就會產生雙象的感覺山於體視顯微鏡兩個出瞳的位置在理論上是等高的,如果安放顯微鏡的臺面是水平的,則顯微鏡兩齣瞳中心的連線也是水平的,因此望遠鏡組兩個望遠鏡出瞳中心(或人瞳中心)的連線必須調整成水平的這也可由儀器設計者在設計結構時就一考慮到。
2.山於望遠鏡組兩個望遠鏡光軸間的夾角是可以變化的,因此在檢測時應該有一個相對基準。教理想情況下認為顯微鏡光軸應與鏡管的機械軸線重合的,所以可以把鏡管的機械軸線作為相對基準方法是用兩個定中[1鏡插入顯微鏡的鏡管中,從物方護以照明。山於對中目鏡在製造時使「l鏡分劃板十字線交點和目鏡光軸以及目鏡光軸和目鏡外殼的機械軸線是重合的且分劃板位十目鏡的物方焦面_匕同時對中目鏡的外殼和鏡管之間的配合是很精密的。因此對中目鏡插人顯微鏡目鏡管後其光軸可以代表顯微鏡目鏡管的機械軸線,被照明的對中目鏡可以看做平行光管,出射的光線能被望遠鏡接收,據此我們可以確定兩望遠鏡光軸之間夾角的大小。不使用特製的對中目鏡是不可能確立相對基準的。
3、用十檢測的望遠鏡組,其中一個望遠鏡是用來瞄準的,另一個用來測量。用於瞄準的分劃板可以只是一個十字線,而用於測量的望遠鏡則應在分劃板上刻有分度並標註所代表的角值。在進行測量前的調整時,要使顯微鏡物方分劃板的十字線成像在對中目鏡的前焦平面上(對中目鏡的焦平面在鏡管內的位置應調整得與體視顯微鏡觀察目鏡前焦平面在鏡管內的位置相同),該十字線像與對中目鏡分劃板十字線通過望遠鏡所成的像都應與瞄準用望遠鏡的目鏡分劃板上的十字刻線重合。同時在測量用望遠鏡的分劃板上,對中月鏡束,完全不同於普通光線的雜亂無章、易受幹擾和難以聚焦。雷射光束可在視距內直線傳播,容易由電信號調製,與光纖配合可代替微波多路通信。雷射還在光電存貯、光電印刷、光電錄音、光電錄象等方面不斷擴大應用範圍。功率雷射器在工業的精細加工、醫療和武器等方面顯示其重要性。功率的PS級雷射更是研究半導體材料和物質結構的重要手段。
雷射信號容易產生和傳輸,電信號便於處理,這種光電結合獲得異常的成功。隨著光電應用領域的開拓,在光電產生、放大、檢測、導向、調製、解調的各個環節中,都有光電特性的測量,需要相應的光電測量儀器。光電技術作為一門學科,現在正式定名為光子學,以別於以電子現象為主的電子學。90年代光電測量儀器也成為電子測量儀器的重要分支,並會有快速的發展。目前光電測量儀器大部分以電子測量儀器作基礎,在前端加上光電變換器而構成。90年代將會有真正的光子學測量儀器出現。
光電測量儀器大都可在電子測量儀器中找到相應產品,如光電信號源、光、波長計、光功率計、光譜儀、光示波器、_光時域反射計、光/電和電/光調製器等等。當然還有專用的光電測量儀器,如雷射二極體特性、光纖特性、光碟特性測量系統。值得一提的是松濱光電子公司的光取樣示波器050一01,是具有30GHz等效帶寬的採用條紋照相管成像的光電測量儀器。
90年代電子測量儀器的發展趨勢,綜上所述可用多快好省來概括:更多—電子測量儀器的應用領域擴大,出現更多的類別(光電測量儀器),更多的品種(調製域儀器),更多的產品(VXI總線),更多的器件(門陣列、ASIC電路、DSP晶片),更多的方法(模擬信號的數字處理),更多的標準在執行(SCPI)。
更快—模擬信號由數字處理,運算速度提高,出現數字示波器、數字頻譜儀、數字合成的任意波形產生器;取樣原理繼續發揮作用,等效帶寬超過10OGHz;光子學的雷射器件使脈衝進人到PS範圍。總的來說,頻率更高和速度更快。更好—微處理機的性能提高,門陣列和機輔設計的成熟,電子測量儀器的性能必然更好和更靈巧,智能程度更高,生產周期縮短。SCPI語言的普及和測量專用軟體包的多種多樣,電子測量儀器對使用者更為友好。
更省—單片儀器和插卡儀器的出現,在性能不變下價格更便宜,或者在價格不變時性能提高。電子測量儀器的體積越來越小巧,物理面板由顯示屏幕上的虛擬面板來代替。利用VXI總線系統構成的測量整機要比機箱堆疊式系統更經濟可靠,並成為主要的自動化測量系統。
電子測量儀器產品的競爭也更為激烈,大公司將遇到中小公司的挑戰。因為硬體來源相差不多和儀器標準是開的,故開發性能優良的軟體和良好的技術支援,將是關鍵所在。回顧20年前,計算機產業集中在以IBM為首的五十家左右的公司,現在能生產微型計算機的起碼上千家中小公司。雖然電子測量儀器的市場較窄,由HP為首的十家左右大公司壟斷的時代已過去,中小公司也能生產出性能很好的產品。
分劃板的十字線像應和望遠鏡分劃板十字刻線重合。上述要求可以經過反覆調整達到。這時兩望遠鏡光軸間的夾角已經確定,在根據目鏡管的機械軸線確定光軸的夾角以後,便不能再觸動調節紐以免夾角發生變化而影響測量結果。
在正式進行測量時只須取下對中目鏡換土10X觀察日鏡,用瞄準用望遠鏡仔細瞄準後便可讀數。偏差的容許值國家標準已有明確規定。
二、左右兩光學系統像面方位不一致性
如果通過體視顯微鏡看到的左右兩個像面上的像的方向不一致性超過了定的限度,那末同一物點的像在人左右兩個眼睛的視網膜上就不處在對一應點上而產生雙像的感覺。
關於像面方位不一致性的控制只需在上面提到的望遠鏡組中的測量望遠鏡的目鏡分劃板上加設一個旋轉機構,旋轉中心應很好地調整在光軸上。當瞄準用望遠鏡中目鏡分劃板十字線與體視顯微鏡物方分劃板十字線像重合時,就轉動測量用望遠鏡的目鏡分劃板,使分劃板十字線與體視顯微鏡物方十字分劃線像平行。這時,分劃板轉動的角度即為左右系統像面方位的不一致性。
這裡要著重指出的是由於體視顯微鏡中所採用的轉像稜鏡不同,左右像方位不一致性隨不同的設計而有很大的差別。以國外產品為例,日本Olympus公司的52一扭型體視顯微鏡左右像面方位不一致性可以不因瞳距的變化而變化。但若採用的是施密特稜鏡(例如德國OPTON的IVb型體視顯微鏡),其像面方位不一致性隨瞳距增大而增大,最大可達4030『。而瑞士wild廠的MS型體視顯微鏡雖然也採用類似的結構,但卻在瞳距的中問位置上控制在極小的數值內,像的方位偏轉在瞳距變大變小時朝不同方向分布。我認為這是一個很好的經驗,因為如果只強調滿足像面方位不一致性的要求而否定施密特稜鏡在體視顯微鏡中的應用,將會使我國採用類似結構的體視顯微鏡不能生產,然而施密特稜鏡的製造成本較低,按其性能價格比還有其一定的應用價值。
雙目儀器通常使用的瞳距在57一70mm範圍內。據統計人兩眼瞳間的距離一般在56一72mm之間,平均值為63mm,女子的兩眼間瞳距平均值要小一些,均為6lmm。所以我國國家標準規定在瞳距為63一65mm的條件下來控制左右兩系統像面方位不一致性既滿足了大多數使用者的需要又考慮到現有一些產品的現實情況,是非常合理的。